메뉴 건너뛰기




Volumn 15, Issue 4, 2002, Pages 4-13

In‐Situ time‐resolved X‐ray diffraction: The current state of the art

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 2342485202     PISSN: 08940886     EISSN: 19317344     Source Type: Journal    
DOI: 10.1080/08940880208602958     Document Type: Note
Times cited : (9)

References (27)
  • 10
    • 85070125931 scopus 로고    scopus 로고
    • A. E. Terry, T. L. Phillips, J. K. Hobbs, to be submitted
    • A. E. Terry, T. L. Phillips, J. K. Hobbs, to be submitted.
  • 26
    • 85070136046 scopus 로고    scopus 로고
    • M. J. Geselbracht, R. I. Walton, E. S. Cowell, F. Millange, and D. OHare, to be published
    • M. J. Geselbracht, R. I. Walton, E. S. Cowell, F. Millange, and D. O'Hare, to be published.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.