Deposition of thermally unstable molecules with the spray-jet technique on Au(111) surface

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 27, 2005, Pages 13296-13300

  Suzuki, Hitoshi ^a   Yamada, Toshiki ^a   Kamikado, Toshiya ^a   Okuno, Yoshishige ^a   Mashiko, Shinro ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF INFORMATION AND COMMUNICATIONS TECHNOLOGY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DERIVATIVES; EVAPORATION; GOLD; JETS; MASS SPECTROMETRY; MOLECULAR BEAMS; ORGANIC COMPOUNDS; POLYMERIZATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; ULTRAHIGH VACUUM;

INTERMOLECULAR INTERACTIONS; NEBULIZERS; NONVOLATILE MOLECULES; SPRAY-JET TECHNIQUES;

PORPHYRINS;

EID: 22944491437     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp051388t     Document Type: Article

References (35)

1. Jung, T. A.; Schlittier, R. R.; Gimzewski, J. K. Nature 1997, 386, 696.
2. Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11899.
3. Scunack, M.; Petersen, L.; Kühnle, A.; Lægsgaard, E.; Stensgaard, I.; Johannsen, I.; Basenbacker, F. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 456.
4. Wild, M.; Berner, S.; Suzuki, H.; Yanagi, H.; Schlettwein, D.; Ivan, S.; Baratoff, A.; Guentherodt, H.-J.; Jung, T. A. ChemPhysChem 2002, 3, 881-885.
5. Kühnle, A.; Linderoth, T. R.; Hammer, B.; Besenbacher, F. Nature 2002, 415, 891-893.
6. Barth, J. V.; Weckesser, J.; Trimarchi, G.; Vladimirova, M.; Vita, A. D.; Cai, C.; Brune, H.; Günter, P.; Kern, K. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 7991.
7. Suzuki, H.; Miki, H.; Yokoyama, S.; Mashiko, S. Thin Solid Films 2003, 438-439, 97-100.
8. Theobald, J. A.; Oxtoby, N. S.; Phillips, M. A.; Champness, N. R.; Beton, P. H. Nature 2003, 424, 1029-1031.
9. Langlais, V. J.; Schlittier, R. R.; Tang, H.; Gourdon, A.; Joachim, C.; Gimzewski, J. K. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 2809.
10. Nazin, G. V.; Qiu, X. H.; Ho, W. Science 2003, 302, 77-81.
11. Tanaka, H.; Hamai, C.; Kanno, T.; Kawai, T. Surf. Sci. Lett. 1999, 432, L611.
12. Tanaka, H.; Kawai, T. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 602.
13. Kasai, H.; Tanaka, H.; Okada, S.; Oikawa, H.; Kawai, T.; Nakanishi, H. Chem. Lett. 2002, 696.
14. Kim, Y.; Komeda, T.; Kawai, M. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 126104.
15. Terada, Y.; Choi, B.-K.; Heike, S.; Fujimori, M.; Hashizume, T. J. Appl. Phys. 2003, 93, 10014.
16. Terada, Y.; Choi, B.-K.; Heike, S.; Fujimori, M.; Hashizume, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2003, 42, 4739.
17. Yamada, T.; Ge, M.; Shinohara, H.; Kimura, K.; Mashiko, S. Chem. Phys. Lett. 2003, 379, 458.
18. Yamada, T.; Shinohara, H.; Ge, M.; Kimura, K.; Mashiko, S. Thin Solid Films 2003, 438-439, 7.
19. Yamada, T.; Shinohara, H.; Ge, M.; Mashiko, S.; Kimura, K. Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 132.
20. Yamada, T.; Suzuki, H.; Miki, H.; Mashiko, S. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 3183.
21. Suzuki, H.; Miki, H.; Yokoyama, S.; Mashiko, S. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 3659.
22. Moresco, F.; Meyer, G.; Rieder, K.-H.; Tang, H.; Gourdon, A.; Joachim, C. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 672.
23. Yokoyama, T.; Yokoyama, S.; Kamikado, T.; Mashiko, S. J. Chem. Phys. 2001, 115, 3814.
24. Loppacher, Ch.; Guggisberg, M.; Pfeiffer, O.; Meyer, E.; Bammerlin, M.; Lüthi, R.; Schlittler, R.; Gimzewski, J. K.; Tang, H.; Joachim, C. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 066107.
25. Tanaka, S,; Suzuki, H.; Kamikado, T.; Mashiko, S. Thin Solid Films 2003, 438-439, 56-60.
26. Tanaka, S.; Suzuki, H.; Kamikado, T.; Mashiko, S. Nanotechnology 2004, 15, S87-S90.
27. Okawa, Y.; Aono, M. Nature 2001, 409, 683.
28. Sekiguchi, T. Personal communication.
29. Yokoyama, T.; Yokoyama, S.; Kamikado, T.; Okuno, Y.; Mashiko, S. Nature 2001, 413, 619.
30. Binkley, J. S.; Pople, J. A.; Hehre, W. J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 939.
31. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
32. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision B.05; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
33. Okuno, Y.; Mashiko, S. Chem. Phys. Lett. 2004, 401, 35-39.
34. Wöll, Ch.; Chiang, S.; Wilson, R. J.; Lippel, P. H. Phys. Rev. B 1989, 39, 7988.
35. Okuno, Y.; Yokoyama, T.; Yokoyama, S.; Kamikado, T.; Mashiko, S. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 7218.