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Volumn 17, Issue 2, 1999, Pages 455-459

Room-temperature radio frequency sputtered Ta2O5: A new etch mask for bulk silicon dissolved processes

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EID: 22644450633     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.