Femtosecond imaging of surface plasmon dynamics in a nanostructured silver film

Nano Letters

Volumn 5, Issue 6, 2005, Pages 1123-1127

  Kubo, Atsushi ^a   Onda, Ken ^a   Petek, Hrvoje ^a   Sun, Zhijun ^a,b   Jung, Yun S ^a,b   Kim, Hong Koo ^a,b  

^a UNIVERSITY OF PITTSBURGH   (United States)

^b University of Pittsburgh   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE DENSITY FLUCTUATIONS; FEMTOSECOND IMAGING; QUANTUM CONTROL; SURFACE PLASMONS (SP);

FERMI LEVEL; IMAGING TECHNIQUES; LASER PULSES; PHOTOEMISSION; PHOTONS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SILICON;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

SILVER;

ARTICLE; CHEMISTRY; ELECTRON; ELECTRON MICROSCOPY; KINETICS; LASER; LIGHT; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; OSCILLOMETRY; PHOTON; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SPECTROPHOTOMETRY; SURFACE PLASMON RESONANCE; TIME;

ELECTRONS; KINETICS; LASERS; LIGHT; MICROSCOPY, ELECTRON; MICROSCOPY, ELECTRON, SCANNING; NANOTECHNOLOGY; OSCILLOMETRY; PHOTONS; SILVER; SPECTROPHOTOMETRY; SURFACE PLASMON RESONANCE; TIME FACTORS;

EID: 21644470624     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl0506655     Document Type: Article

References (46)

1. Surface Plasmons; Raether, H., Ed.; Springer: Berlin, 1988.
2. Kneipp, K.; Wang, Y.; Kneipp, H.; Perelman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667.
3. Chen, C. K.; de Castro, A. R. B.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 1981, 46, 145.
4. Lamprecht, B.; Leitner, A.; Aussenegg, R. R. Appl. Phys. B 1999, 68, 419.
5. Lehmann, J.; Merschdorf, M.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Voll, S.; Gerber, G. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 2921.
6. Merschdorf, M.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Voll, S.; Gerber, G. Appl. Phys. A 2000, 71, 547.
7. Monchicourt, P.; Raynaud, M.; Saringar, H.; Kupersztych, J. J. Phys. Condens. Matter 1997, 9, 5765.
8. Fecher, G. H.; Schmidt, O.; Hwu, Y.; Schönhense, G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2002, 126, 77.
9. García-Vidal, F. J.; Martín-Moreno, L. Phys. Rev. B 2002, 66, 155412.
10. Sarychev, A. K.; Shalaev, V. M. Phys. Rep. 2000, 335, 275.
11. Barber, P. W.; Chang, P. K.; Massoudi, H. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 997.
12. Barnes, W. L.; Dereux, A.; Ebbesen, T. W. Nature 2003, 424, 824.
13. Van Duyne, R. P. Science 2004, 306, 985.
14. Lamprecht, B.; Krenn, J. R.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4421.
15. Zentgraf, T.; Christ, A.; Kuhl, J.; Giessen, H. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 243901.
16. McFarland, A. D.; van Duyne, R. P. Nano Lett. 2003, 3, 1057.
17. Devaux, E.; Ebbesen, T. W.; Weeber, J.-C.; Dereux, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4936.
18. Krenn, J. R.; Salerno, M.; Felidj, N.; Lamprecht, B.; Schider, G.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R.; Weeber, J. C.; Dereux, A.; Goudonnet, J. P. J. Microscopy 2001, 202, 122.
19. Maier, S. A.; Brongersma, M. L.; Kik, P. G.; Atwater, H. A. Phys. Rev. B 2002, 65, 193408.
20. Sun, Z.; Jung, Y. S.; Kim, H. K. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3021.
21. Ditlbacher, H.; Krenn, J. R.; Schider, G.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1762.
22. Hartschuh, A.; Beversluis, M. R.; Bouhelier, A.; Novotny, L. Philos. Trans. R. Soc. London A 2004, 362, 807.
23. Ebbesen, T. W.; Lezec, H. J.; Ghaemi, H. F.; Thio, T.; Wolff, P. A. Nature 1998, 391, 667.
24. Nilius, N.; Ernst, N.; Freund, H.-J. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 3994.
25. Hecht, B.; Bielefeldt, H.; Novotny, L.; Inouye, Y.; Pohl, D. W. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 1889.
26. Imura, K.; Nagahama, T.; Okamoto, H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 16344.
27. Ogawa, S.; Nagano, H.; Petek, H.; Heberle, A. P. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1339.
28. Petek, H.; Heberle, A. P.; Nessler, W.; Nagano, H.; Kubota, S.; Matsunami, S.; Moriya, N.; Ogawa, S. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 4649.
29. Petek, H.; Ogawa, S. Prog. Surf. Sci. 1997, 56, 239.
30. Rotermund, H. H. Surf. Sci. Rep. 1997, 29, 265.
31. Merschdorf, M.; Kennerknecht, C.; Pfeiffer, W. Phys. Rev. B 2004, 70, 193401.
32. Schmidt, O.; Bauer, M.; Wiemann, C.; Porath, R.; Scharte, M.; Andreyev, O.; Schönhense, G.; Aeschlimann, M. Appl. Phys. B 2002, 74, 223.
33. Sekatskii, S. K.; Chekalin, S. V.; Ivanov, A. L.; Matveets, Y. A.; Stepanov, A. G.; Letokhov, V. S. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 4148.
34. Heberle, A. P.; Baumberg, J. J.; Köhler, K. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 2598.
35. Shapiro, M.; Brumer, P. Rep. Prog. Phys. 2003, 66, 859.
36. Warren, W. S.; Rabitz, H.; Dahleh, M. Science 1993, 259, 1581.
37. Pontius, N.; Sametoglu, V.; Petek, H.; Eberhardt, W. Phys. Rev. B, submitted.
38. Gresillon, S.; Aigouy, L.; Boccara, A. C.; Rivoal, J. C.; Quelin, X.; Desmarest, C.; Gadenne, P.; Shubin, V. A.; Sarychev, A. K.; Shalaev, V. M. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4520.
39. Stockman, M. I. Phys. Rev. B 2000, 62, 10494.
40. Yoshida, S.; Yamaguchi, T.; Kinbara, A. J. Opt. Soc. Am. 1972, 62, 1415.
41. Levinson, H. J.; Plummer, E. W. Phys. Rev. B 1981, 24, 628.
42. Stockman, M. I.; Pandey, L. N.; George, T. F. Phys. Rev. B 1996, 53, 2183.
43. Salour, M. M.; Cohen-Tannoudji, C. Phys. Rev. Lett. 1977, 38, 757.
44. Feurer, T.; Vaughan, J. C.; Nelson, K. A. Science 2003, 299, 374.
45. Stockman, M. I.; Faleev, S. V.; Bergman, D. J. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 067402.
46. Bergman, D. J.; Stockman, M. I. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 027402.