Ultrafast photoresponse of metallic and semiconducting single-wall carbon nanotubes

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 71, Issue 11, 2005, Pages

  Ellingson, Randy J ^a   Engtrakul, Chaiwat ^a   Jones, Marcus ^a   Samec, Monica ^a   Rumbles, Garry ^a   Nozik, Arthur J ^a   Heben, Michael J ^a  

^a NATIONAL RENEWABLE ENERGY LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON NANOTUBE;

ABSORPTION; ARTICLE; ENERGY; MOLECULAR INTERACTION; MOLECULAR PHYSICS; SEMICONDUCTOR; TEMPERATURE SENSITIVITY;

EID: 20044381741     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.71.115444     Document Type: Article

References (44)

1. A. C. Dillon, K. M. Jones, T. A. Bekkedahl, C. H. Kiang, D. S. Bethune, and M. J. Heben, Nature (London) 386, 377 (1997).
2. Q. H. Wang, A. A. Setlur, J. M. Lauerhaas, J. Y. Dai, E. W. Seelig, and R. P. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 72, 2912 (1998).
3. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, and J. M. Kim, Appl. Phys. Lett. 75, 3129 (1999).
4. B. Vigolo, P. Poulin, M. Lucas, P. Launois, and P. Bernier, Appl. Phys. Lett. 81, 1210 (2002).
5. J. N. Coleman, W. J. Blau, A. B. Dalton, E. Munoz, S. Collins, B. G. Kim, J. Razal, M. Selvidge, G. Vieiro, and R. H. Baughman, Appl. Phys. Lett. 82, 1682 (2003).
6. M. J. O'Connell, S. M. Bachilo, C. B. Huffman, V. C. Moore, M. S. Strano, E. H. Haroz, K. L. Rialon, P. J. Boul, W. H. Noon, C. Kittrell, J. Ma, R. H. Hauge, R. B. Weisman, and R. E. Smalley, Science 297, 593 (2002).
7. S. M. Bachilo, M. S. Strano, C. Kittrell, R. H. Hauge, R. E. Smalley, and R. B. Weisman, Science 298, 2361 (2002).
8. R. B. Weisman and S. M. Bachilo, Nano Lett. 3, 1235 (2003).
9. T. Hertel, R. Fasel, and G. Moos, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 75, 449 (2002).
10. M. Ichida, Y. Hamanaka, H. Kataura, Y. Achiba, and A. Nakamura, Physica B 323, 237 (2002).
11. J.-S. Lauret, C. Voisin, G. Cassabois, C. Delalande, P. Roussignol, O. Jost, and L. Capes, Phys. Rev. Lett. 90, 057404 (2003).
12. G. N. Ostojic, S. Zaric, J. Kono, M. S. Strano, V. C. Moore, R. H. Hauge, and R. E. Smalley, Phys. Rev. Lett. 92, 117402 (2003).
13. L. Huang, H. N. Pedrosa, and T. D. Krauss, Phys. Rev. Lett. 93, 017403 (2004).
14. J.-S. Lauret, C. Voisin, G. Cassabois, P. Roussignol, C. Delalande, L. Capes, E. Valentin, A. Filoramo, and O. Jost, Semicond. Sci. Technol. 19, S486 (2004).
15. Y.-Z. Ma, J. Stenger, J. Zimmermann, S. M. Bachilo, R. E. Smalley, R. B. Weisman, and G. R. Fleming, J. Chem. Phys. 120, 3368 (2004).
16. I. V. Rubtsov, R. M. Russo, T. Albers, P. Deria, D. E. Luzzi, and M. J. Therien, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 79, 1747 (2004).
17. O. J. Korovyanko, C.-X. Sheng, Z. V. Vardeny, A. B. Dalton, and R. H. Baughman, Phys. Rev. Lett. 92, 017403 (2004).
18. F. Wang, G. Dukovic, L. E. Brus, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 92, 177401 (2004).
19. M. J. Bronikowski, P. A. Willis, D. T. Colbert, K. A. Smith, and R. E. Smalley, J. Vac. Sci. Technol. A 19, 1800 (2002).
20. V. C. Moore, M. S. Strano, E. H. Haroz, R. H. Hauge, R. E. Smalley, J. Schmidt, and Y. Talmon, Nano Lett. 3, 1379 (2003).
21. M. S. Strano, C. A. Dyke, M. L. Usrey, P. W. Barone, M. J. Allen, H. Shan, C. Kittrell, R. H. Hauge, J. M. Tour, and R. E. Smalley, Science 301, 1519 (2003).
22. R. J. Ellingson, J. L. Blackburn, P. Yu, G. Rumbles, O. I. Micic, and A. J. Nozik, J. Phys. Chem. B 106, 7758 (2002).
23. V. I. Klimov and W. McBranch, Opt. Lett. 23, 277 (1998).
24. J. W. Mintmire, B. I. Dunlap, and C. T. White, Phys. Rev. Lett. 68, 631 (1992).
25. R. Saito, M. Fujita, G. Dresselhaus, and M. Dresselhaus, Phys. Rev. B 46, 1804 (1992).
26. N. Hamada, S. Sawada, and A. Oshiyama, Phys. Rev. Lett. 68, 1579 (1992).
27. J. W. Mintmire and C. T. White, Phys. Rev. Lett. 81, 2506 (1998).
28. C. T. White and T. N. Todorov, Nature (London) 393, 49 (1998).
29. R. Saito, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rev. B 61, 2981 (2000).
30. M. Ouyang, J.-L. Huang, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, Science 292, 702 (2001).
31. O. Jost, A. A. Gorbunov, W. Pompe, T. Pichler, R. Friedlein, M. Knupfer, M. Reibold, H.-D. Bauer, L. Dunsch, M. S. Golden, and J. Fink, Appl. Phys. Lett. 75, 2217 (1999).
32. T. Pichler, M. Knupfer, G. S. Golden, J. Fink, A. Rinzler, and R. E. Smalley, Phys. Rev. Lett. 80, 4729 (1998).
33. Z. M. Li, Z. K. Tang, H. J. Liu, N. Wang, C. T. Chan, R. Saito, S. N. Okada, G. D. Li, J. S. Chen, N. Nagasawa, and S. Tsuda, Phys. Rev. Lett. 87, 127401 (2001).
34. H. Ajiki and T. Ando, Physica B 201, 349 (1994).
35. L. X. Benedict, S. G. Louie, and M. L. Cohen, Solid State Commun. 100, 177 (1996).
36. J. Lefebvre, P. Finnie, and Y. Homma, Phys. Rev. B 70, 045419 (2004).
37. S. T. Huxtable, D. G. Cahill, S. Shenogin, L. Xue, R. Ozisik, P. Barone, M. Usrey, M. S. Strano, G. Siddons, M. Shim, and P. Keblinski, Nat. Mater. 2, 731 (2003).
38. M. B. Mohamed, T. S. Ahmadi, S. Link, M. Braun, and M. A. El-Sayed, Chem. Phys. Lett. 343, 55 (2001).
39. M. S. Strano S. K. Doorn, E. H. Haroz, C. Kittrell, R. H. Hauge, and R. E. Smalley, Nano Lett. 3 1091 (2003).
40. Measurement of the hot carrier relaxation dynamics in dispersed SWNTs is complicated by the typically high excitation densities used. The rise time of the bleach at the first interband transition energy for semiconducting SWNTs, containing information about the ultrafast carrier relaxation, is likely masked by ultrafast decay dynamics due to strong Auger recombination present at such high carrier densities.
41. C. D. Spataru, S. Ismail-Beigi, L. X. Benedict, and S. G. Louie, Phys. Rev. Lett. 92, 077402 (2004).
42. V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, D. W. McBranch, C. A. Leatherdale, and M. G. Bawendi, Science 287, 1011 (2000).
43. S. Lebedkin, K. Arnold, F. Hennrich, R. Krupke, B. Renker, and M. M. Kappes, in Molecular nanostructures, edited by H. Kuzmany, J. Fink, M. Mehring, and S. Roth, AIP Conf. Proc. No. 685 (AIP, Melville, NY, 2003), p. 230.
44. M. F. Islam, D. E. Milkie, C. L. Kane, A. G. Yodh, and J. M. Kikkawa, Phys. Rev. Lett. 93, 037404 (2004) .