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Volumn 27, Issue 4, 1997, Pages 121-124

Electronic structure of point defects in SiC

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EID: 19044394988     PISSN: 01039733     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.