Probing charge-transfer processes in helium nanodroplets by Optically Selected Mass Spectrometry (OSMS): Charge steering by long-range interactions

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 19, 2005, Pages 7235-7242

  Lewis, William K ^a   Lindsay, C Michael ^a   Bemish, Raymond J ^b   Miller, Roger E ^a  

^a University of North Carolina at Chapel Hill   (United States)

^b PFIZER INC   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; ELECTROSTATICS; HYDROGEN INORGANIC COMPOUNDS; IMPACT IONIZATION; MASS SPECTROMETRY; NITROGEN COMPOUNDS;

ELECTROSTATIC POTENTIALS; IONIZATION CROSS SECTIONS; MOLECULAR SOLUTES; RAPID CHARGE MIGRATION;

HELIUM;

ACETYLENE; CYANOACETYLENE; HELIUM; HYDROGEN CYANIDE; NANOPARTICLE; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; ELECTRICITY; EVAPORATION; INFRARED SPECTROSCOPY; IONIZATION; LASER; MASS SPECTROMETRY; PROBABILITY; SOLVATION;

EID: 18744376011     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja042489s     Document Type: Article

References (49)

1. Toennies, J. P.; Vilesov, A. F. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 2622-2648.
2. Nauta, K.; Miller, R. E. Science 2000, 287, 293-295.
3. Dong, F.; Miller, R. E. Science 2002, 298, 1227-1230.
4. Nauta, K.; Moore, D. T.; Stiles, P. L.; Miller, R. E. Science 2001, 292, 481-484.
5. Douberly, G. E.; Nauta, B. K.; Miller, R. E. Chem. Phys. Lett. 2003, 377, 384-390.
6. Tabbert, B.; Gunther, H.; zu Putlitz, G. J. Low Temp. Phys. 1997, 109, 653-707.
7. Lewerenz, M.; Schilling, B.; Toennies, J. P. J. Chem. Phys. 1995, 102, 8191-8207.
8. Hartmann, M.; Miller, R. E.; Toennies, J. P.; Vilesov, A. F. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 1566-1569.
9. Stienkemeier, F.; Higgins, J.; Callegari, C.; Kanorsky, S. I.; Ernst, W. E.; Scoles, G. Z. Phys. D 1996, 38, 253-263.
10. Blume, D.; Lewerenz, M.; Huisken, F.; Kaloudis, M. J. Chem. Phys. 1996, 105, 8666-8683.
11. Grebenev, S.; Hartmann, M.; Havenith, M.; Sartakov, B.; Toennies, J. P.; Vilesov, A. F. J. Chem. Phys. 2000, 112, 4485-4495.
12. Scheidemann, A.; Schilling, B.; Toennies, J. P. J. Phys. Chem. 1993, 97, 2128-2138.
13. Callicoatt, B. E.; Mar, D. D.; Apkarian, V. A.; Janda, K. C. J. Chem. Phys. 1996, 105, 7872-7875.
14. Ruchti, T.; Forde, K.; Callicoatt, B. E.; Ludwigs, H.; Janda, K. C. J. Chem. Phys. 1998, 109, 10679-10687.
15. Callicoatt, B. E.; Forde, K.; Ruchti, T.; Jung, L. L.; Janda, K. C.; Halberstadt, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 9371-9382.
16. Ruchti, T.; Callicoatt, B. E.; Janda, K. C. Phys. Chem. Chem. Phys. 2000, 2, 4075-4080.
17. Atkins, K. R. In Proceedings of the International School of Physics Enrico Fermi, Course XXI on Liquid Helium; Carerei, G., Ed.; Academic: New York, 1963; p 403.
18. Halberstadt, N.; Janda, K. C. Chem. Phys. Lett. 1998, 282, 409-412.
19. Callicoatt, B. E.; Forde, K.; Jung, L. F.; Ruchti, T.; Janda, K. C. J. Chem. Phys. 1998, 109, 10195-10200.
20. Lewis, W. K.; Applegate, B. E.; Sztáray, J.; Sztáray, B.; Baer, T.; Bemish, R. J.; Miller, R. E. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11283-11292.
21. Farnik, M.; Henne, U.; Samelin, B.; Toennies, J. P. Z. Phys. D 1997, 40, 93-98.
22. McLuckey, S. A.; Stephenson, J. L. Mass Spectrom. Rev. 1998, 17, 369-407.
23. Vekey, K. J. Mass. Spectrom. 1996, 31, 445-463.
24. Lewerenz, M.; Schilling, B.; Toennies, J. P. Chem. Phys. Lett. 1993, 206, 381-387.
25. Knuth, E. L.; Schilling, B.; Toennies, J. P. On Scaling Parameters for Predicting Cluster Sizes in Free Jets. In Proceedings of the 19th International Symposium on Rarefied Gas Dynamics: Oxford University Press: Oxford/UK, 1995; pp 270-276.
26. Nauta, K.; Miller, R. E. J. Chem. Phys. 2001, 115, 8384-8392.
27. Nauta, K.; Miller, R. E. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4480-4483.
28. Nauta, K.; Moore, D. T.; Miller, R. E. Faraday Discuss. 1999, 113, 261-278.
29. Schneider, K.; Kramper, P.; Schiller, S.; Mlynek, J. Opt. Lett. 1997, 22, 1293-1295.
30. NIST Mass Spec Data Center, S. E. S. d. Mass Spectra. In NIST Chemistry WebBook, Nist Standard Reference Database Number 69; Linstrom, P. J., Mallard, W. G., Eds.; National Institute of Standards and Technology: Gaithersburg, MD, 2003 (http://webbook.nist.gov).
31. Nauta, K.; Miller, R. E. Science 1999, 283, 1895-1897.
32. Nauta, K.; Miller, R. E. J. Chem. Phys. 1999, 111, 3426-3433.
33. Berkowitz, J.; Chupka, W. A.; Walter, T. A. J. Chem. Phys. 1969, 50, 1497-1500.
34. Kusch, P.; Hustrulid, A.; Tate, J. T. Phys. Rev. 1937, 52, 843-854.
35. Hogness, T. R.; Lunn, E. G. Phys. Rev. 1925, 26, 44-55.
36. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision A.1; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
37. Fehsenfeld, F. C.; Schmeltekopf, A. L.; Goldan, P. D.; Schiff, H. I.; Ferguson, E. E. J. Chem. Phys. 1966, 44, 4087-4094.
38. Werner, H. J.; Knowles, P. J.; Amos, R. D.; Bernhardsson, A.; Berning A.; Celani, P.; Cooper, D. L.; Deegan, M. J. O.; Dobbyn, A. J.; Eckert, F.; Hampel, C.; Hetzer, G.; Korona, T.; Lindh, R.; Lloyd, A. W.; McNicholas S. J.; Manby, F. R.; Meyer, W.; Mura, M. E.; Nicklass, A.; Palmieri, P.; Pitzer, R.; Rauhut, G.; Schutz, M.; Schumann, U.; Stoll, H.; Stone, A. J.; Tarroni, R.; Thorsteinsson, T. Molpro, version 2002.1; University College Cardiff Consultants Limited: Wales, UK, 2002.
39. Fowler, P. W.; Diercksen, G. H. F. Chem. Phys. Lett. 1990, 167, 105-110.
40. Seong, J.; Janda, K. C.; Halberstadt, N.; Spiegelmann, F. J. Chem. Phys. 1998, 109, 10873-10884.
41. Brandt, S.; Dahmen, H. D. The Picture Book of Quantum Mechanics; Springer-Verlag: New York, 2001.
42. Patel, M. V.; Viel, A.; Paesani, F.; Huang, P.; Whaley, K. B. J. Chem. Phys. 2002, 118, 5011-5027.
43. Lehmann, K. K.; Northby, J. A. Mol. Phys. 1999, 97, 639-644.
44. Lehmann, K. K. Mol. Phys. 1999, 97, 645-666.
45. Nauta, K. Thesis, University of North Carolina at Chapel Hill, 2000.
46. Merritt, J. M.; Douberly, G. E.; Miller, R. E. J. Chem. Phys. 2004, 121, 1309-1316.
47. Remacle, F.; Levine, R. D.; Schlag, E. W.; Weinkauf, R. J. Phys. Chem. A 2004, 103, 10149-10158.
48. Thevis, M.; Schanzer, W.; Schmickler, H. J. Am. Soc. Mass Spectrosc. 2003, 14, 658-670.
49. Joutsiniemi, K.; Vainiotalo, P.; Fulop, F.; Lazar, L. Rapid. Commun. Mass. Spectrom. 1998, 12, 876-882.