Far-infrared ellipsometry using a synchrotron light source - The dielectric response of the cuprate high Tc superconductors

Thin Solid Films

Volumn 455-456, Issue , 2004, Pages 143-149

  Bernhard, C ^a   Humlicek J ^b   Keimer, B ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUT FÜR FESTKÖRPERFORSCHUNG   (Germany)

^b MASARYK UNIVERSITY   (Czech Republic)

Author keywords

Dielectric; Ellipsometer; Superconductors

Indexed keywords

BISMUTH COMPOUNDS; CHARGE CARRIERS; DIELECTRIC PROPERTIES; ELLIPSOMETRY; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; INFRARED RADIATION; SUPERCONDUCTING MATERIALS; ULTRAVIOLET RADIATION;

ELECTRONIC ANISOTROPY; ELLIPSOMETERS;

SYNCHROTRON RADIATION;

EID: 17144469072     PISSN: 00406090     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.tsf.2004.01.002     Document Type: Conference Paper

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