Structural characterization of nickel oxide nanowires by x-ray absorption near-edge structure spectroscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 7, 2005, Pages 2512-2515

  Wu, Z Y ^a,b   Liu, C M ^c   Guo, L ^c   Hu, R ^a   Abbas, M I ^a   Hu, T D ^a   Xu, H B ^c  

^a INSTITUTE OF HIGH ENERGY PHYSICS   (China)

^b INFN LABORATORI NAZIONALI DI FRASCATI   (Italy)

^c BEIHANG UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; CHARACTERIZATION; ELECTRODEPOSITION; ELECTRON SCATTERING; ELECTRONIC STRUCTURE; NICKEL COMPOUNDS; PHOTOLUMINESCENCE; POLYMERS; SYNTHESIS (CHEMICAL); TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; ULTRAVIOLET RADIATION;

NICKEL OXIDE NANOWIRES; PHOTOLUMINESCENCE EMISSION; STRUCTURAL DISTORTIONS; X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURE SPECTRA;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 14544285451     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0466183     Document Type: Article

References (49)

1. Iijima, S. Nature 1991, 354, 56.
2. Hu, J. T.; Odom, T. W.; Lieber, C. M. Acc. Chem. Res. 1999, 32, 435.
3. Homes, J. D.; Johnston, K. P.; Doty, R. C.; Korgel, B. A. Science 2000, 287, 1471.
4. Agrait, N.; Rodrigo, N. J.; Vieria, S. Phys. Rev. B 1993, 47, 12345.
5. Li, W. Z.; Xie, S. S.; Qian, L. X.; Chang, B. H.; Zou, B. S.; Zhou, W. Y.; Zhao, R. A.; and Wang, G. Science 1996, 274, 1701.
6. Guo, L.; Ji, Y. L.; Xu, H. B.; Simon, P.; Wu Z. Y. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 16864.
7. Guo, L.; Yang S. H. Chem. Mater. 2000, 12, 2268.
8. Guo, L.; Wu, Z. H.; Wang, W. D.; Zhu, H. S. Chem. Phys. Lett. 2000, 318, 49.
9. Gibson, C. P.; Prtzer, K. J. Science 1995, 267, 1338.
10. Huang, M. H.; Wu, Y.; Feick, H.; Tran, N.; Weber, E.; Yang, P. Adv. Mater. 2001, 13, 113.
11. Wu, X. W.; Song, H.; Wang, K. Y.; Hu, T.; Zhao, B.; Sun, Y. P.; Du, J. J. Chem. Phys. Lett. 2001, 336, 53.
12. Pan, Z. W.; Dai, Z. R.; Wang, Z. L. Science 2001, 291, 1947.
13. Leevin, D.; Ying, J. Y. Stud. Surf. Sci. Catal. 1997, 110, 367.
14. Yoshio, M.; Todorov, Y.; Yamato, K.; Noguchi, H.; Itoh, J.; Okada, M.; Mouri, T. J. Power Sources 1998, 74, 46.
15. Yang, H. X.; Dong, Q. F.; Hu, X. H. J. Power Sources 1999, 79, 256.
16. Hidehiro, T. Jpn. Patent JP 09263444, 1997, 7, 10, p 6.
17. Miller, E. L.; Rocheleau, R. E. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 3072.
18. Wu, Y.; Wu, G.; Ni, X. J. Vac. Sci. Technol. 1999, 19, 228.
19. Wang, Y.; Ke, J. High Technol. Lett. 1997, 3, 92.
20. Felic, A. C.; Lama, F.; Piacentini, M. J. Appl. Phys. 1997, 80, 3678.
21. Xu, C. K.; Hong, K. Q.; Liu, S.; Wang G. H.; Zhao X. N. J. Cryst. Growth 2003, 255, 308.
22. Zhan, Y. J.; Zheng, C. L.; Liu Y. K.; Wang, G. H. Mater. Lett. 2003, 57, 3265.
23. Whitney, T. M.; Jiang, J. S.; Searson, P. C.; Chien, C. L. Science 1993, 261, 1316.
24. Ferre, R.; Ounadjela, K.; George, J. M.; Piraux, L.; Dubois, S. Phys. Rev. B 1997, 56, 14066.
25. Liu C. M.; Guo L.; Xu H. B.; Wu Z. Y.; Weber J. Microelectron. Eng. 2003, 66, 107
26. Kuzmin, A.; Mironova-Ulmane, N.; Ronchin, S. Proc. SPIE 2002, 5722, 61.
27. Tabagi, H.; Qgawa, H. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 2379.
28. Kim, T. Y.; Kim, T. Y.; Senthil Kumar, M.; Suh, E.-K.; Nahm, K. S. J. Cryst. Growth 2004, 270 491-497.
29. Hamad, K. S.; Roth, R.; Rockenberger, J.; van Buuren, T.; Alivisatos, A. P. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 3474.
30. Rehr, J. J.; Albers, R. C. Rev. Mod. Phys. 2000, 72, 621.
31. Wu, Z. Y.; Zhang, J.; Ibrahim, K.; Xian, D. C.; Li, G.; Tao, Y.; Hu, T. D.; Bellucci, S.; Marcelli, A.; Zhang, Q. H.; Gao, L.; Chen, Z. Z. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2973.
32. Liu, F. Q.; Ibrahim, K.; Qian, H. J.; Yang, Y.; Tao, X. P.; Jia J. F.; Dong, Y. H. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 80, 409.
33. Durham, P. J. In X-ray Absorption: Principles, Applications, and Techniques of EXAFS, SEXAFS, and XANES; Prinz, R., Koningsberger D., Eds.; Wiley: New York, 1988.
34. Lee, P. A.; Pendry, J. B. Phys. Rev. B 1975, 11, 2795.
35. Mattheiss, L. Phys. Rev. A 1964, 134, 970.
36. Clementi, E.; Roetti, C. Nuclear Data Tables 1974, 14, 177.
37. Lee P. A.; Beni, G. Phys. Rev. B 1977, 15, 2862.
38. Norman, J. G. Mol. Phys. 1974, 81, 1191.
39. Joly, Y. Phys. Rev. B 2001, 63, 125120.
40. Lytle, F. W.; Greegor, R. B.; Panson, A. J. Phys. Rev. B 1988, 37, 1550.
41. Garcia, J.; Bianconi, A.; Benfatto, M.; Natoli, C. R. J. Phys., Colloq. 1986, 47, C8-49.
42. Wu, Z. Y.; Xian, D. C.; Hu, T. D.; Xie, Y. N.; Tao, Y.; Natoli, C. R. Paris, E.; Marcelli, A. Phys. Rev. B 2004, 70, 33104.
43. Natoli, C. R. In EXAFS and Near Edge Structure; Bianconi, A., Incoccia, L., Stipcich S., Eds.; Springer Series in Chemistry and Physics; Springer: Berlin, 1983; Vol. 27, p 43.
44. Davoli, I.; Marcelli, A.; Bianconi, A.; Tomellini M.; Fanfoni, M. Phys. Rev. B 1986, 33, 2979.
45. de Groot, F. M. F.; Grioni, M.; Fuggle, J. C.; Ghijsen J.; Sawatzky, G. A.; Petersen, H. Phys. Rev. B 1989, 40, 5715.
46. Kurata, H.; Lefevre, E.; Colliex, C.; Brydson, R. Phys. Rev. B1993, 47, 13763.
47. Wu, Z. Y.; Gota, S.; Jollet, F.; Pollak, M.; Gautier-Soyer, M.; Natoli, C. R. Phys. Rev. B 1997, 55, 2570.
48. Wu, Z. Y.; Marcelli. A.; Mottana, A.; Giuli, G.; Paris, E.; Seifert, F. Phys. Rev. B 1996, 54, 2976.
49. Benfatto, M.; Della Longa, S.; Qin, Y. W.; Li, Q. L.; Pan, G.; Wu, Z. Y.; Morante, S. Biophys. Chem. 2004, 110, 191.