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Volumn 46, Issue 1, 2005, Pages 163-166

Crystallization and dielectric properties of 2SrTiO3-SiO 2 glass

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Dielectric response; Glass; Oxygen vacancy

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EID: 12944258609     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.