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Volumn 85, Issue 2, 2003, Pages 317-376

Atomic data and spectral line intensities for Si VIII

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ELECTRON TEMPERATURE; ROCKETS; SILICON; SPECTROSCOPY;

EID: 0348163807     PISSN: 0092640X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.adt.2003.08.002     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (40)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.