Applicability conditions and experimental analysis of the variable stripe length method for gain measurements

Optics Communications

Volumn 229, Issue 1-6, 2004, Pages 337-348

  Dal Negro, L ^a,c   Bettotti, P ^a   Cazzanelli, M ^a   Pacifici, D ^b   Pavesi, L ^a  

^a UNIVERSITY OF TRENTO   (Italy)

^b UNIVERSITY OF CATANIA   (Italy)

^c MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

Nanocrystals and nanoparticles; Optical gain

Indexed keywords

APPROXIMATION THEORY; CRYSTAL DEFECTS; ELECTROMAGNETIC WAVE ATTENUATION; GAIN MEASUREMENT; GEOMETRICAL OPTICS; LIGHT AMPLIFIERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OPTICAL PUMPING; OPTICAL WAVEGUIDES; SEMICONDUCTING SILICON; SEMICONDUCTOR DEVICE MODELS; SPONTANEOUS EMISSION; STATISTICAL METHODS;

OPTICAL GAIN; OPTICAL LOSSES;

OPTICAL COMMUNICATION;

EID: 0346332697     PISSN: 00304018     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.optcom.2003.10.051     Document Type: Article

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