Silica coated single walled carbon nanotubes

Nano Letters

Volumn 3, Issue 6, 2003, Pages 775-778

  Whitsitt, Elizabeth A ^a   Barron, Andrew R ^a  

^a RICE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON; SILICON DIOXIDE;

ARTICLE; CHEMICAL REACTION; FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; NANOTECHNOLOGY; RAMAN SPECTROMETRY; REACTION TIME; THICKNESS;

EID: 0141744957     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl034186m     Document Type: Article

References (21)

1. Iijima, S.; Ichihashi, T. Nature 1993, 363, 603.
2. Bethune, D. S.; Kiang, C. H.; de Vries, M. S.; Gorman, G.; Savoy, R.; Vazquez, J.; Beyers, R. Nature 1993, 363, 605.
3. Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Eklund, P. C. Science of Fullerenes and Carbon Nanotubes; Academic Press: San Diego, 1996.
4. Bachilo, S. M.; Strano, M. S.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E.; Weisman, R. B. Science 2002, 298, 2361.
5. Kong, J.; Franklin, N. R.; Zhou, C. W.; Chapline, M. G.; Peng, S.; Cho, K. J.; Dai, H. J. Science 2000, 287, 622.
6. Collins, P. G.; Bradley, K.; Ishigami, M.; Zettl, A. Science 2000, 287, 1801.
7. Kong, J.; Chapline, M. G.; Dai, H. J. Adv. Mater. 2001, 13, 1384.
8. Hirsch, A. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 1853.
9. Thess, A.; Lee, R.; Nikolaev, P.; Dai, H.; Petit, P.; Robert, J.; Xu C.; Lee, Y. H.; Kim, S. G.; Rinzler, A. G.; Colbert, D. T.; Scuseria, G. E.; Tomanek, D.; Fischer, J. E.; Smalley, R. E. Science 1998, 273, 483.
10. Girifalco, L. A.; Hodak, M.; Lee, R. S. Phys. Rev. B 2000, 62, 13104.
11. O'Connell, M. J.; Bachilo, S. M.; Huffman, C. B.; Moore, V. C.; Strano, M. S.; Haroz, E. H.; Rialon, K. L.; Boul, P. J.; Noon, W. H.; Kittrell, C.; Ma, J.; Hauge, R. H.; Weisman, R. B.; Smalley, R. E. Science 2002, 297, 593.
12. Tsang, S. C.; Gua, Z. J.; Chen, Y. K.; Green, M. L. H.; Hill, H. A. O.; Hambley, T. W.; Sadler, P. J. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1997, 36, 2198.
13. Balavoine, F.; Schultz, P.; Richard, C.; Mallouh, V.; Ebbesen, T. W.; Mioskowski, C. Angew Chem., Int. Ed. Engl. 1999, 38, 1912.
14. Chen, R. J.; Zhan, Y. G.; Wang, D. W.; Dai, H. J. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 3838.
15. O'Connell, M. J.; Boul, P. J.; Ericson, L. M.; Huffman, C. B.; Wang, Y. H.; Haroz, E. H.; Kuper, C.; Tour, J.; Ausman, K. D.; Smalley, R. E. Chem. Phys. Lett. 2001, 342, 265.
16. Seeger, T.; Köhler, T.; Frauenheim, T.; Grobert, N.; Rühle, M. ; Terrones, M.; Seifert, G. Chem. Commun. 2002, 1, 34.
17. Seeger, T.; Redlich, P.; Grobert, N.; Terrones, M.; Walton, D. R. M.; Kroto, H. W.; Rühle, M. Chem. Phys. Lett. 2001, 339, 41.
18. Fu, Q.; Lu, C.; Liu, J. Nano Lett. 2002, 2, 329.
19. Whitsitt, E. A.; Barron, A. R. Chem. Commun. 2003, in press.
20. Bronikowski, M. J.; Willis, P. A.; Colbert, D. T.; Smith, K. A.; Smalley, R. E. J. Vac. Sci. Technol. A 2001, 19, 1800.
21. Rinzler, A. G.; Liu, J.; Dai, H.; Nikolaev, P.; Huffman, C. B.; Rodriguez-Macias, F. J.; Boul, P. J.; Lu, A. H.; Colbert, D. T.; Lee, R. S.; Fischer, J. E.; Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Smalley, R. E. Appl. Phys. A 1998, 67, 29.