Off-specular polarized neutron reflectometry from periodic arrays of lithographically structured Co dots

Langmuir

Volumn 19, Issue 19, 2003, Pages 7789-7793

  Fritzsche, H ^a   Van Bael, Margriet J ^b   Temst, K ^b  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

^b UNIVERSITY OF LEUVEN   (Belgium)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LITHOGRAPHY; MAGNETIC FIELDS; MAGNETIZATION; MAGNETOMETERS; SQUIDS;

FERROMAGNETIC DOTS; NON-SPIN-FLIP INTENSITY; OFF-SPECULAR POLARIZED NEUTRON REFLECTROMETRY; SPIN-FLIP INTENSITY;

MAGNETS;

EID: 0141677773     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la026625n     Document Type: Article

References (23)

1. Cowburn, R. P.; Koltsov, D. K.; Adeyeye, A. O.; Welland, M. E. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3947.
2. Schmitte, T.; Schemberg, T.; Westerholt, K.; Zabel, H.; Schädler, K.; Kunze, U. J. Appl. Phys. 2000, 87, 5630.
3. Cowburn, R. P.; Koltsov, D. K.; Adeyeye, A. O.; Welland, M. E.; Tricker, D. M. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 1042.
4. Vavassori, P.; Metlushko, V.; Grimsditch, M.; Ilic, B.; Neuzil, P.; Kumar, R. Phys. Rev. B 2000, 61, 5895.
5. Van Bael, M. J.; Temst, K.; Moshchalkov, V. V.; Bruynseraede, Y. Phys. Rev. B 1999, 59, 14674.
6. Otani, Y.; Kohda, T.; Novosad, V.; Fukamichi, K.; Yuasa, S.; Katayama, T. J. Appl. Phys. 2000, 87, 5621.
7. Martin, J. I.; Jaccard, Y.; Hoffmann, A.; Nogués, J.; George, J. M.; Vicent, J. L.; Schuller, I. K. J. Appl. Phys. 1998, 84, 411.
8. Shimazu, Y.; Ohkubo, M.; Morinaga, K. J. Magn. Magn. Mater. 2002, 240, 17.
9. Kleiber, M.; Kümmerlen, F.; Löhndorf, M.; Wadas, A.; Weiss, D.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1998, 58, 5563.
10. Demand, M.; Hehn, M.; Ounadjela, K.; Stamps, R. L.; Cambril, E.; Cornette, A.; Rousseaux, F. J. Appl. Phys. 2000, 87, 5111.
11. Seynaeve, E.; Rens, G.; Volodin, A. V.; Temst, K.; Van Haesendonck, C.; Bruynseraede, Y. J. Appl. Phys. 2001, 89, 531.
12. Pulwey, R.; Zölfl, M.; Bayreuther, G.; Weiss, D. J. Appl. Phys. 2002, 91, 7995.
13. Temst, K.; Van Bael, M. J.; Fritzsche, H. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 991.
14. Temst, K.; Van Bael, M. J.; Fritzsche, H. J. Magn. Magn. Mater. 226-230, 1840.
15. Temst, K.; Van Bael, M. J.; Moshchalkov, V. V.; Bruynseraede, Y. J. Appl. Phys. 2000, 87, 4216.
16. Mezei, F.; Golub, R.; Klose, F.; Toews, H. Physica B 1995, 213-214, 898.
17. Krist, T.; Pappas, C.; Keller, T.; Mezei, F. Physica B 1995, 213-214, 939.
18. Boulin, C.J.; Kempf, R.; Gabriel, A.; Koch, M. H. J. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 1988, 269, 312.
19. Rafaja, D.; Valvoda, V.; Kub, J.; Temst, K.; Van Bael, M. J.; Bruynseraede, Y. Phys. Rev. B 2000, 61, 16144.
20. Fritzsche, H.; Temst, K.; Van Bael, M. J. Appl. Phys. A 2002, 74 [Suppl.], S1535.
21. Temst, K.; Van Bael, M. J.; Moshchalkov, V. V.; Brunseraede, Y.; Fritzsche, H.; Jonckheere, R. Appl. Phys. A 2002 [Suppl.] S1538.
22. Prejbeanu, I. L.; Natali, M.; Buda, L. D.; Ebels, U.; Lebib, A.; Chen, Y.; Ounadjela, K. J. Appl. Phys. 2002, 91, 7343.
23. Donahue, M. J.; Porter, D. G. OOMMF Software; NISTIR 6376; National Institute of Standards and Technology: Gaithersburg, MD; http://math.nist.gov/oommf/.