[Ca(Thd)2(Tetraen)]: A Monomeric Precursor for Deposition of CaS Thin Films

Chemistry of Materials

Volumn 9, Issue 5, 1997, Pages 1234-1240

  Hänninen, Timo ^a   Mutikainen, Ilpo ^a   Saanila, Ville ^a   Ritala, Mikko ^a   Leskelä, Markku ^a   Hanson, Jonathan C ^b  

^a UNIVERSITY OF HELSINKI   (Finland)

^b BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0039838374     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm9606078     Document Type: Article

References (51)

1. Tanaka, S.; Shanker, V.; Shiiki, M.; Deguchi, H.; Kobayashi, H. Proc. SID 1985, 26, 255.
2. Kobayashi, H.; Tanaka, S.; Shanker, M.; Shiiki, M.; Deguchi, H. J. Cryst. Growth 1985, 72, 559.
3. Leskelä, M.; Tammenmaa, M. Mater. Chem. Phys. 1987, 16, 349.
4. Ohnishi, H. Annu. Rev. Mater. Sci. 1989, 19, 83.
5. Yoshida, M.; Mikami, A.; Ogura, T.; Tanaka, K; Taniguchi, K.; Nakajima, S. SID 86 Digest 1986, 17, 41.
6. Onishi, M.; Iwase, R.; Yamasaki, Y. Proc. SID 1988, 29, 311.
7. Onisawa, K.; Taguchi, K.; Fuyama, M.; Tamura, K.; Abe, Y.; Ono, Y. A.; Yamamoto, H. J. Electrochem. Soc. 1989, 136, 2736.
8. Abe, Y.; Onisawa, K.; Ono, Y. A.; Hanazono, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1990, 29, 1495.
9. Aozasa, M.; Kato, K.; Nakayama, T.; Ando, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1990, 29, 1997.
10. Ando, M.; Ono, Y. A. J. Appl. Phys. 1990, 68, 3578.
11. Tuenge, R. T. In Electroluminescence; Singh, V. P., McClure, J. C., Eds.; Cinco Puntos Press: El Paso, TX, 1992; p 173.
12. Poelman, D.; Vereaemst, R.; van Meirhaeghe, R. L.; Laflere, W. H.; Cardon, F. J. Lumin. 1995, 65, 7.
13. Helbig, R.; Birecki, M.; DiCarolis, S. A.; Feigelson, R. S.; Hiskes, R. J. Cryst. Growth 1995, 146, 599.
14. Moss, T. S.; Dye, R. C.; Smith, D. C.; Samuels, J. A.; DelaRosa, M. J.; Schauss, C. F. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1996, 415, 21.
15. Kunze, K.; Bihry, L.; Atanasova, P.; Hampden-Smith, M. J.; Duesler, E. N. Chem. Vap. Deposition 1996, 2, 105.
16. Tammenmaa, M.; Antson, H.; Asplund, M.; Hiltunen, L.; Leskelä, M.; Niinistö, L.; Ristolainen, E. J. Cryst, Growth 1987, 84, 151.
17. Aarik, J.; Aidla, A.; Jaek, A.; Leskelä, M.; Niinistö, L. Appl. Surf. Sci. 1994, 75, 33.
18. Rautanen, J.; Leskelä, M., Niinistö, L.; Nykänen, E.; Soininen, P.; Utriainen, M. Appl. Surf. Sci. 1994, 82/83, 553.
19. Leskelä, M.; Mölsä, H.; Niinistö, L. Superconduct. Sci. Technol. 1994, 6, 627.
20. Leskelä, M.; Niinistö, L.; Nykänen, E.; Soininen, P.; Tiitta, M. Mater. Res. Soc. Symp. Ser. 1991, 222, 315.
21. Aarik, J.; Aidla, A.; Jaek, A.; Leskelä, M.; Niinisto, L. J. Mater. Chem. 1994, 4, 1239.
22. Barron, A. R.; Rees, W. S. Adv. Mater. Opt. Electron. 1993, 2, 271.
23. Wojtczak, W. A.; Fleig, P. F.; Hampden-Smith, M. J. Adv. Organomet. Chem. 1996, 40, 215 and references therein.
24. Schwarberg, J. E.; Sievers, R. E.; Moshier, R. W. Anal. Chem. 1970, 42, 1828.
25. Kottke, T.; Stalke, D. J. Appl. Crystallogr. 1993, 26, 615.
26. Otwinowski, Z. Oscillation Data Reduction Program. Proceedings of the CCP4 StudyWeekend: Data Collection and Processing. Compiled by Sawyer, L.; Isaacs, N.; Bailey, S. SERC Daresbury Laboratory, England, 1993; pp 56-62.
27. Minor, W. XDISPLAYF Program. Purdue University, 1993.
28. Sheldrick, G. M. SHELXTL/PC Version 4.1; Siemens Analytical X-ray Instruments Inc.: Madison, WI.
29. Sheldrick, G. M. SHELXL-93, Program for Crystal Structure Refinement; University of Göttingen.
30. Suntola, T. Thin Solid Films 1992, 216, 84.
31. Ylilammi, M.; Ranta-aho, T. Thin Solid Films 1993, 232, 56.
32. Arunasalam, V.-C.; Drake, S. R.; Hursthouse, M. B.; Malik, K. M. A.; Miller, S. A. S.; Mingos, D. M. P. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1996, 2435.
33. Hashimoto, T.; Kitazawa, K.; Suemune, Y.; Yamamoto, T.; Koinuma, T. Jpn, J. Appl. Phys. 1990, 29, L2215.
34. SPECINFO Database, Spectrum LMCN-49394-629, Chemical Concepts GmbH, F. R. Germany.
35. Hashimoto, T.; Koinuma, H.; Nakabayashi, H.; Shiraishi, T.; Suemune, Y.; Yamamoto, T. J. Mater. Res. 1992, 7, 1336.
36. Drake, S. R.; Srewart, S. A. S., Williams, D. J. Inorg. Chem. 1993, 32, 3227.
37. Allen, F. H.; Davies, J. E.; Galloy, J. J.; Johnson, O.; Kennard, O.; Macrae, C. F.; Mitchell, E. M.; Mitchell, G. F.; Smith, J. M.; Watson, D. G. J. Chem. Inf. Comput. Sci. 1991, 31, 187.
38. Clarke, E. T.; Squattrito, P. J.; Rudolf, P. R.; Motekaitis, R. J.; Martell, A. E.; Clear-field, A. Inorg. Chim. Acta 1989, 766, 221.
39. Padmanabhan, V. M.; Yadava, V. S.; Chandra, R.; Poonia, N. S. Curr. Sci. 1989, 58, 1125.
40. Vijayvergiya, V.; Padmanabhan, B.; Singh, T. P. Acta Crystallogr. 1995, C51, 2235.
41. Schulz, D. L.; Hinds, B. J.; Neumayer, D. A.; Stern, C. L.; Marks, T. J. Chem. Mater. 1993, 5, 1605.
42. Drake, S. R.; Hursthouse, M. B.; Malik, K. M. A.; Miller, S. A. S.; Otway, D. J. Inorg. Chem. 1993, 32, 4464.
43. Arunasalam, V.-C.; Baxter, I.; Drake, S. R.; Hursthouse, M. B.; Malik, K. M. A.; Otway, D. J. Inorg. Chem. 1995, 34, 5295.
44. Soboleva, I. E.; Troyanov, S. I.; Kuz'mina, N. P.; Ivanov, V. K.; Martynenko, L. L; Struchkov, Yu. T. RUSS. J. Coord. Chem. 1995, 21, 658.
45. Hollander, F. J.; Templeton, D.H.; Zalkin, A. Acta Crystallogr. 1973, B29, 1295.
46. Bradley, D. C.; Hasan, M.; Hursthouse, M. B.; Motevali, M.; Khan, O. F.; Pritchard, R. G.; Williams, J. O. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1992, 575.
47. Leskelä, M.; Ritala, M. J. Phys. IV 1995, 5, C5-937.
48. Suntola, T. Mater. Sci. Rep. 1989, 4, 261.
49. CRC Handbook of Chemistry and Physics, 58th ed; CRC Press: Boca Raton, FL, 1977; p B-101.
50. Madarász, J.; Leskelä, T.; Rautanen, J.; Niinistö, L. J. Mater. Chem. 1996, 6, 781.
51. Joint Committee on Powder Diffraction Standards, Card 8-464.