Size and surface effects in porous silicon studied by X-ray absorption spectroscopy

Physica Status Solidi (A) Applied Research

Volumn 197, Issue 1, 2003, Pages 98-102

  Daldosso, N ^a   Dalba, G ^a   Fornasini, P ^a   Grisenti, R ^a   Rocca, F ^b  

^a UNIVERSITY OF TRENTO   (Italy)

^b CNR   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ENERGY GAP; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OPTICAL PROPERTIES; PARTICLE SIZE ANALYSIS; PASSIVATION; PHOTOLUMINESCENCE; SURFACE PROPERTIES; X RAY SPECTROSCOPY;

CHEMICAL PHYSICAL SURFACE EFFECTS; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY;

POROUS SILICON;

EID: 0038469957     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.200306475     Document Type: Conference Paper

References (17)

1. O. Bisi, S. Ossicini, and L. Pavesi, Surf. Sci. Rep. 38, 1 (2000).
2. A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997).
3. M. Wolkin, J. Jorne, P. M. Fauchet, G. Allan, and C. Delerue, Phys. Rev. Lett. 82, 197 (1999).
4. A. Puzder, A. J. Williamson, J. C. Grossman, and G. Galli, Phys. Rev. Lett. 88, 97401 (2002).
5. S. Schuppler, S. L. Friedman, M. A. Marcus, D. L. Adler, Y. H. Xie, F. M. Ross, T. D. Harris, W. L. Brown, Y. J. Chabal, L. E. Brus, and P. H. Citrin, Phys. Rev. Lett. 72, 2648 (1994).
6. S. C. Bayliss, P. Anstee, D. A. Hutt, Q. Zhang, N. Danson, J. Bates, and A. Waddilove, J. Appl. Phys. 76, 5171 (1994).
7. T. K. Sham, D. T. Jang, I. Coulthard, J. W. Lorimer, X. H. Feng, K. H. Tan, S. P. Frigo, R. A. Rosenberg, D. C. Houghton, and B. Bryskiewicz, Nature 363, 331 (1993).
8. R. F. Pettifer, A. Glanfield, S. Gardelis, B. Hamilton, P. Dawson, and A. D. Smith, Physica B 208-209, 484 (1995).
9. G. Dalba, N. Daldosso, P. Fornasini, R. Graziola, R. Grisenti, and F. Rocca, J. Non-Cryst. Solids 232, 370 (1998).
10. G. Dalba, P. Fornasini, R. Grisenti, N. Daldosso, and F. Rocca, Appl. Phys. Lett. 74, 1454 (1998).
11. G. Dalba, N. Daldosso, P. Fornasini, M. Grimaldi, R. Grisenti, and F. Rocca, Phys. Rev. B 62, 9911 (2000).
12. N. Daldosso, Ph.D. Thesis, Université J. Fourier Grenoble, France (2001).
13. G. Dalba, N. Daldosson, P. Fornasini, M. Grimaldi, R. Grisenti, and F. Rocca, Electrochem. Soc. Proceeding Symp. 99-22, (1999) pp. 10-20.
14. F. Rocca, G. Dalba, and N. Daldosso, Asian J. Phys. 9, 759 (2000).
15. L. Pavesi, M. Ceschini, G. Mariotto, E. Zanghellini, O. Bisi, M. Anderle, L. Calliari, M. Fedrizzi, and L. Fedrizzi, J. Appl. Phys. 75, 1118 (1994).
16. T. Van Buuren, L. N. Dinh, L. L. Chase, W. J. Siekhaus, I. Jimenez, L. J. Terminello, M. Grush, T. A. Callcott, and J. A. Carlise, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 452, 171 (1996).
17. T. Van Buuren, T. Tiedje, S. N. Patisas, and C. D. W. Jones, Proc. ICPS, (Vancouver, 1994).