Stabilized blue emission from polyfluorene-based light-emitting diodes: Elimination of fluorenone defects

Advanced Functional Materials

Volumn 13, Issue 4, 2003, Pages 325-330

  Gong, Xiong ^a   Iyer, Parameswar K ^a   Moses, Daniel ^a   Bazan, Guillermo C ^a   Heeger, Alan J ^a   Xiao, Steven S ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b American Dye Source Inc   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; ELECTROLUMINESCENCE; ENERGY TRANSFER; MOLECULAR STRUCTURE; ORGANIC POLYMERS; PHOTOLUMINESCENCE; THIN FILMS; ULTRAVIOLET SPECTROPHOTOMETERS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EMISSION BANDS;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 0038185143     PISSN: 1616301X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adfm.200304279     Document Type: Article

References (46)

1. U. Schert, E. J. W. List, Adv. Mater. 2002, 14, 477.
2. D. Sainova, T. Miteva, H. G. Nothofer, U. Scherf, I. Glowacki, J. Ulanski, H. Fujikawa, D. Neher, Appl Phys. Lett. 2000, 76, 1810.
3. A. R. Buckley, M. D. Rahn, J. Hill, J. Cabanillas-Gonzalez, A. M. Fox, D. D. C. Bradley, Chem. Phys. Lett. 2001, 339, 331.
4. D. F. O'Brien, C. Giebeler, R. B. Fletcher, A. J. Cadby, L. C. Palilis, D. G. Lidzey, P. A. Lane, D. D. Bradley, W. Blau, Synth. Met. 2001, 116, 379.
5. X. Gong, J. C. Ostrowski, G. C. Bazan, D. Moses, A. J. Heeger, M. S. Liu, A. K-Y. Jen, Adv. Mater. 2003, 15, 45.
6. M. Grell, D. D. C. Bradley, M. Inbasekarkan, E. P. Woo, Adv. Mater. 1997, 9, 798.
7. J. R. Sheats, H. Antoniadis, M. Hueschen, W. Leonard, J. Miller, R. Moon, D. Roitman, A. Stocking, Science 1996, 273, 884.
8. R. D. Scurlock, B. Wang, P. R. Ogilby, J. R. Sheats, R. J. Goitia, J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 10194.
9. V. N. Bliznyuk, S. A. Carter, J. C. Scott, G. Klärner, R. D. Miller, D. C. Miller, Macromolecules 1999, 32, 361.
10. F. Uckert, Y. H. Tak, K. Müllen, H. Bässler, Adv. Mater. 2000, 12, 905.
11. K. H. Weinfurtner, H. Fujikawa, S. Tokito, Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2502.
12. U. Lemmer, S. Heun, R. F. Mahrt, U. Scherf, M. Hopmeier, U. Siegner, E. O. Göbel, K. Müllen, H. Bässler, Chem. Phys. Lett. 1995, 240, 373.
13. I. Prieto, J. Teetsov, M. A. Fox, D. A. Vanden Bout, A. J. Bard, J. Phys. Chem. A 2001, 105, 520.
14. W. L. Yu, Y. Cao, J. Pei, W. Huang, A. J. Heeger, Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 3270.
15. Y. He, S. Gong, R. Hattori, J. Kanicki, Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 2265.
16. G. Klaerner, M. H. Davey, W. D. Chen, J. C. Scott, R. D. Miller, Adv. Mater. 1998, 10, 993.
17. S. Setayesh, A. C. Grimsdale, T. Weil, V. Enkelmann, K. Müllen, F. Meghdadi, E. J. W. List, G. Leising, J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 946.
18. S. Xiao, M. Nguyen, X. Gong, Y. Cao, H. B. Wu, D. Moses, A. J. Heeger, Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 25.
19. A. J. Campbell, D. D. C. Bradley, T. Virgili, D. G. Lidzey, H. Antoniadis, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 3872.
20. S. A. Jenekhe, J. A. Osaheni, Science 1994, 265, 765.
21. W. L. Yu, J. Pei, W. Huang, A. J. Heeger, Adv. Mater. 2000, 12, 828.
22. L. J. Rothberg, M. Yan, F. Papadimitrakopoulos, M. E. Calvin, E. W. Kwock, T. M. Miller, Synth. Met. 1996, 80, 41.
23. K. Tada, M. Onoda, Thin Solid Films 2001, 393, 358.
24. L. M. Herz, R. T. Phillips, Phys. Rev. B 2000, 61, 13 691.
25. J. I. Lee, G. Klaerner, R. D. Miller, Chem. Mater. 1999, 11, 1083.
26. The Aldrich Library of FT-IR Spectra (Ed: C. J. Pouchert), 1st ed., Vol. 2, Aldrich Chemical Co., Milwaukee, WI 1985, p. 74.
27. E. J. W. List, R. Guentner, P. S. de Freitas, U. Scherf, Adv. Mater. 2002, 14, 374.
28. M. Yan, L. J. Rothberg, F. Papadimitrakopoulos, M. E. Galvin, T. M. Miller, Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 744.
29. T. Zyung, J. J. Kim, Appl Phys. Lett. 1995, 67, 3420.
30. J. Cornil, D. A. dos Santos, X. R. Silbey, J. L. Brédas, J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 1289.
31. H. C. Yeh, R. H. Lee, L. H. Chan, T. Y. J. Lin, C. T. Chen, E. Balasubramaniam, Y. T. Tao, Chem. Mater. 2001, 13, 2788.
32. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben, Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy, Physical Electronic Inc., Eden Prairie MN 1995, p. 230,
33. A. B. Christie, J. Lee, I. Sutherland, J. M. Walls, Appl. Surf. Sci. 1983, 15, 224.
34. V. A. Lobatch, I. R. Rubin, P. V. Lushnikov, Phys. Status Solidi B 1990, 161, 647.
35. L. S. Liao, L. F. Cheng, M. K. Fung, C. S. Lee, S. T. Lee, M. Inbasekaran, E. P. Woo, W. W. Wu, Phys. Rev. B. 2000, 62, 10004.
36. D. Briggs, Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS, Cambridge University Press, New York 1998, p. 65.
37. L. S. Liao, L. F. Cheng, M. K. Fung, C. S. Lee, S. T. Lee, M. Inbasekaran, E. P. Woo, W. W. Wu, Chem. Phys. Lett. 2000, 325, 405.
38. P. Dannetun, M. Fahlman, C. Fauquet, K. Kaerijama, Y. Sconoda, R. Lazzaroni, J. L. Brédas, W. R. Salaneck, Synth. Met. 1994, 67, 133.
39. G. G. Andersson, W. J. H. van Gennip, J. W. Niemantsverdriet, H. H. Brongersma, Chem. Phys. Lett, 2002, 278, 159.
40. R. D. Scurlock, B. Wang, P. R. Ogilby, J. R. Sheats, R. L. Clogh, J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 10194.
41. Y. Park, V. E. Choong, B. R. Hsieh, C. W. Tang, Y. Gao, Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 3955.
42. W. R. Salaneck, M. Lögdluned, Polym. Adv. Technol. 1998, 9, 419.
43. W. R. Salaneck, M. Lögdlund, M. Fahlman, G. Greczynski, T. Kugler, Mater. Sci. Eng. 2001, R34, 121.
44. M. K. Fung, S. L. Lai, S. N. Bao, C. S. Lee, J. J. O'Brien, M. Inbasekaran, W. W. Wu, S. T. Lee, Synth. Met. 2002, 128, 97.
45. P. Bröms, J. Birgerson, W. R. Salaneck, Synth. Met. 1997, 88, 255.
46. X. Gong, M. R. Robinson, J. C. Ostrowski, G. C. Bazan, D. Moses, A. J. Heeger, Adv. Mater. 2002, 14, 581.