Microstructure characterization of precursor-derived Si-C-N ceramics before and after creep testing

Acta Materialia

Volumn 51, Issue 9, 2003, Pages 2675-2683

  Cai, Y ^a   Zimmermann, A ^a,b   Bauer, A ^a   Aldinger, F ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE FOR INTELLIGENT SYSTEMS   (Germany)

^b ROBERT BOSCH GMBH   (Germany)

Author keywords

Crystallization; Interface structure; Oxidation; Si C N ceramic; Transmission electron microscopy (TEM)

Indexed keywords

CARBON; COMPOSITION; CREEP TESTING; CRYSTALLIZATION; ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY; MICROSTRUCTURE; NITROGEN; OXIDATION; SILICON; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

PRECURSORS;

CERAMIC MATERIALS;

EID: 0038077186     PISSN: 13596454     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1359-6454(03)00077-6     Document Type: Article

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