Atomic diffusion inside a STM junction: Simulations by kinetic Monte Carlo coupled to tunneling current calculations

Surface Science

Volumn 523, Issue 3, 2003, Pages 267-278

  Baud, Stéphanie ^a   Bouju, Xavier ^a,b   Ramseyer, Christophe ^a   Tang, Hao ^b  

^a UNIVERSITÉ DE FRANCHE COMTÉ   (France)

^b CEMES CNRS   (France)

Author keywords

Monte Carlo simulations; Physical adsorption; Scanning tunneling microscopy; Surface defects; Surface diffusion

Indexed keywords

ADSORPTION; COMPUTER SIMULATION; CRYSTAL DEFECTS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; XENON;

ATOMIC DIFFUSION;

DIFFUSION;

EID: 0037454642     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(02)02439-1     Document Type: Article

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