Single-wall carbon nanotube films

Chemistry of Materials

Volumn 15, Issue 1, 2003, Pages 175-178

  Sreekumar, T V ^a   Liu, Tao ^a   Kumar, Satish ^a   Ericson, Lars M ^b   Hauge, Robert H ^b   Smalley, Richard E ^b  

^a Georgia Institute of Technology   (United States)

^b RICE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON;

ARTICLE; CONDUCTANCE; FILM; OPTICS; RAMAN SPECTROMETRY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SINGLE WALL NANOTUBE; STRESS STRAIN RELATIONSHIP; TENSILE STRENGTH; THERMOGRAVIMETRY;

EID: 0037435621     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm020367y     Document Type: Article

References (39)

1. Iijima, S.; Ichihashi, T. Nature 1993, 363, 603.
2. Bethune, D. S.; Kiang, C. H.; de Vries, M. S.; Gorman, G.; Savoy, R.; Vazquez.; Beyers, R. Nature 1993, 363, 605.
3. Saito, R.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. Physical Properties of Carbon Nanotubes; Imperial College Press: London, 1998.
4. Yu, M. F.; Files, B. S.; Arepalli, S.; Ruoff, R. S. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 5552.
5. Lu, J.P. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 1297.
6. Yakobson, B. I.; Smalley, R. E. Science 1997, 85, 324.
7. Chen, J.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Chen, Y.; Rao, A. M.; Ecklund, P. C.; Haddon, R. C. Science 1998, 282, 95.
8. Ausman, K. D.; Piner, R.; Lourie, O.; Ruoff, R. S.; Korobov, M. J phy. chem. B 2000, 104 (38), 8911.
9. Liu, J.; Rinzler, A. G.; Dai, H.; Hafner, J. H.; Bradley, R. K.; Boul, P. J.; Lu, A.; Iverson, T.; Shelimov, K.; Huffman, C. B.; Rodriguez-Macias, F.; Shon, Y.-S.; Lee, T. R.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Science 1998, 280, 1253.
10. Chen, J.; Rao, A. M.; Lyuksyutov, S.; Itkis, M. E.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Cohn, R. W.; Eklund P. C.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E.; Haddon, R. C. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2525.
11. Vigolo, B.; Penicaud, A.; Coulon, C.; Sauder, C.; Pailler, R.; Journet, C.; Bernier, P.; Poulin, P. Science 2000, 290, 1331.
12. Li, Y. H.; Xu, C.; Wei, B.; Zhang, X.; Zheng, M.; Wu, D.; Ajayan, P. M. Chem. Mater. 2002, 14, 483.
13. Nikolaev, P.; Bronikowski, M. J.; Bradley, R. K.; Rohmund, F.; Colbert, D. T.; Smith, K. A.; Smalley, R. E.; Chem. Phys. Lett. 1999, 313, 91.
14. Bronikowski, M. J.; Willis P. A., Colbert, D. T.; Smith, K. A.; Smalley, R. E. J. Vac. Sci. Technol. 2001, 19, 1800.
15. Chiang, I. W.; Brinson, B. E.; Smalley, R. E.; Margrave, J. L.; Hauge, R. H. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1157.
16. Fischer, J. E.; Dai, H.; A. Thess, R. L.; Hanjani, N. M.; Dehaas, D. L.; Smalley, R. E. Phys. Rev. B 1997, 55, 4921.
17. Bozhko, A. D.; Sklovsky, D. E.; Nalimova, V. A.; Rinzler, A. G.; Smalley, R. E.; Fischer, J. E. Appl. Phys. A 1998, 67, 75.
18. Kim, G. T.; Choi, E. S.; Kim, D. C.; Suh, D. S.; Park, Y. W.; Liu, K.; Duesberg G.; Roth, S. Phys. Rev. B 1998, 58, 16064.
19. Kaiser, A. B.; Dusberg, G.; Roth, S. Phys. Rev. B 1998, 57, 1418.
20. Sumanasekera, G. U.; Allen, J. L.; Fang, S. L.; Loper, A. L.; Rao, A. M.; Eklund, P. C. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4292.
21. Smalley, R. E. et al., to be submitted.
22. Claye, A.; Rahman, S.; Fischer, J. E.; Sirenko, A.; Sumanasekera, G. U.; Eklund, P. C. Chem. Phys. Lett. 2001, 3333, 16.
23. Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Bandow, S. J.; Thess A.; Smalley, R. E. Science 1997, 388, 257.
24. Zhang, L.; Li, H. D.; Yue, K. T.; Zhang, S. L.; Wu, X. H.; Zi, J.; Shi, Z. J.; Gu, Z. N. Phys. Rev. B 2002, 65, 073401.
25. Huang, F. M.; Yue, K. T.; Tang, P. H.; Zhang, S. L.; Shi, Z. J.; Zhou, X. H.; Gu, Z. N. J. Appl. Phys. 1998, 84, 4022.
26. Li, H. D.; Yue, K. T.; Lian, Z. L.; Zhan, Y.; Zhou, L. X.; Zhang, S. L.; Shi, Z. J.; Gu, Z. N.; Liu, B. B.; Yang, R. S.; Yang, H. B.; Zou, G. T.; Zhang, Y.; Iijima, S. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2053.
27. Venkateswaran, U. D.; Brandsen, E. A.; Schlecht, U.; Rao, A. M.; Richter, E.; Loa, I.; Syassen, K.; Eklund, P. C. Phys. Status Solidi B 2001, 223, 225.
28. Teredesai, P. V.; Sood, A. K.; Sharma, S. M.; Karmakar, S.; Sikka, S. K.; Govindaraj, A.; Rao, C. N. R. Phys. Status Solidi B 2001, 223, 479.
29. Venkateswaran, U. D.; Rao, A. M.; Richter, E.; Menon, M.; Rinzler, A.; Smalley, R. E.; Eklund, P. C. Phys. Rev. B 1999, 59, 10928.
30. Teredesai, P. V.; Sood, A. K.; Muthu, D. V. S.; Sen, R.; Govindaraj, A.; Rao, C. N. R. Chem. Phys. Lett. 2000, 319, 296.
31. Thomsen, C.; Reich, S.; Jantoljak, H.; Loa, I.; Syassen, K.; Burghard, M.; Duesberg, G. S.; Roth, S. Appl. Phys. A 1999, 69, 309.
32. Sood, A. K.; Teredesai, P. V.; Muthu, D. V. S.; Sen, R.; Govindaraj, A.; Rao, C. N. R. Phy. Status Solidi B 1999, 215, 393.
33. Dresselhaus M. S.; Eklund, P. C. Adv. Phys. 2000, 49, 705.
34. Saito, R.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 2000, 61, 2981.
35. Charlier, J. C.; Lambin, Ph. Phys. Rev. B 1998, 57, R15037.
36. Kazaoui, S.; Minami, N.; Kataura, H.; Achiba, Y. Synth. Met. 2001, 121, 1201.
37. Jacquemin, R.; Kazaoui, S.; Yu, D.; Hassanien, A.; Minami, N.; Kataura, H.; Achiba, Y. Synth. Met. 2000, 115, 283.
38. Kazaoui, S.; Minami, N.; Jacquemin, R.; Katarua H.; Achiba, Y. Phys. Rev. B 1999, 60, 13339.
39. Visvanathan, H.; Rooke, M. A.; Sherwood, P. M. A. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 409.