Growth of ultra-thin Ga and Ga2O3 films on Ni(1 0 0)

Surface Science

Volumn 527, Issue 1-3, 2003, Pages 57-70

  Jeliazova, Y ^a   Franchy, R ^a  

^a FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

Author keywords

Auger electron spectroscopy; Gallium; Low energy electron diffraction (LEED); Nickel; Scanning tunneling microscopy; Surface structure, morphology, roughness, and topography

Indexed keywords

ADSORPTION; ANNEALING; AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY; DEPOSITION; GALLIUM COMPOUNDS; LATTICE CONSTANTS; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; MORPHOLOGY; NICKEL; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE STRUCTURE;

HEXAGONAL STRUCTURES;

ULTRATHIN FILMS;

EID: 0037429733     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(02)02681-X     Document Type: Article

References (40)

1. Atkinson A. Rev. Mod. Phys. 57:1985;437.
2. Sandell A., Libuda J., Bäumer M., Freund H.-J. Surf. Sci. 346:1996;108.
3. Cocke D.L., Johnson E.D., Merrill R.P. Catal. Rev. Sci. Eng. 26:1984;163.
4. Winkelmann F., Wohlrab S., Libuda J., Bäumer M., Cappus D., Menges M., Al-shamery K., Kuhlenboeck H., Freund H.-J. Surf. Sci. 307-309:1994;1148.
5. Nakamura S., Senoh M., Nagahama S., Iwasa N., Yamada T., Kiyoku H., Sugimoto Y. Appl. Phys. Lett. 68:1996;2105.
6. Walker D., Saxler A., Kung P., Zhang X., Hamilton M., Diaz J., Razeghi M. Appl. Phys. Lett. 72:1998;3303.
7. Fleischer M., Meixner H. Sensors Actuators B. 5:1992;115.
8. Fleischer M., Meixner H. Sensors Actuators B. 6:1992;257.
9. Callegari A., Hoh P.D., Buchanan D.A., Lacey D. Appl. Phys. Lett. 54:1989;332.
10. Passlack M., Hunt N.E.J., Schubert E.F., Zydzik G.J., Hong M., Mannaerts J.P., Opila R.L., Fischer R.L. Appl. Phys. Lett. 64:1994;2715.
11. Moodera J.S., Kinder L.R., Wong T.M., Meservey R. Phys. Rev. Lett. 75:1998;3273.
12. Miyazaki T., Tezuka N. J. Magn. Magn. Mater. 139:1995;L231.
13. Li Z., Groot C.d., Moodera J.H. Appl. Phys. Lett. 77:2000;3630.
14. Reiss G., Brückl H., Hütten A. Phys. B. 14:1998;339.
15. Boeve H. Electron. Lett. 34:1998;1754.
16. Vurens G.H., Salmeron M., Somorjai G.A. Prog. Surf. Sci. 2:1990;333.
17. Huang C., Ludviksson A., Martin R.M. Surf. Sci. 265:1992;314.
18. Franchy R. Surf. Sci. Rep. 38:2000;195.
19. März A., Franchy R. Surf. Sci. 466:2000;54.
20. Schmitz G., Gasmann P., Franchy R. J. Appl. Phys. 83:1998;2533.
21. Schmitz G., Gasmann P., Franchy R. Surf. Sci. 397:1998;339.
22. Chen P., Zhang R., Xu X.F., Zhou Y.G., Chen Z.Z., Xie S.Y., Li W.P., Zheng Y.D. Appl. Phys. A. 71:2000;191.
23. Franchy R., Eumann M., Schmitz G. Surf. Sci. 470:2001;337.
24. Gassmann P., Franchy R., Ibach H. Surf. Sci. 319:1994;95.
25. Pies W., Weiss A. Hellwege V.K.-H., Hellwege A.M. Landolt-Börnstein Zahlenwerte und Funktionen aus Naturwissenschaften und Technik, vol. III/7b. 1975;Springer, Berlin.
26. Åhman J., Svensson G., Albertson J. Acta Crystallogr. Sect. C. 52:1996;1336.
27. Geller S. J. Chem. Phys. 33:1960;676.
28. Bosio L. J. Chem. Phys. 68:1978;122.
29. Gong X.G., Chiarotti G.L., Parrinello M., Tosatti E. Phys. Rev. B. 43:1991;14277.
30. Wyckoff R.W.G. Crystal Structure, vol. I. second ed. 1962;Wiley, New York.
31. MacDonald K.F., Fedotov V.A., Pochon S., Ross K.J., Stereus G.S., Zheludev N.I., Brocklesby W.S., Emelyanov V.I. Appl. Phys. Lett. 80:2002;1643.
32. Jeliazova Y., Franchy R. Surf. Sci. 502-503:2002;51.
33. Seah M.P., Dench W.A. Surf. Interface Anal. 1:1979;2-10.
34. Mezey L.Z., Giber J. Jpn. J. Appl. Phys. 21:1982;1569.
35. Lüth H. Surfaces and Interfaces of Solid Materials. third ed. 1998;Springer Verlag, Berlin, Heidelberg.
36. Walko D.A., Robinson I.K., Grütter C., Bilgram J.H. Phys. Rev. Lett. 81:1998;626.
37. Züger O., Dürig U. Phys. Rev. B. 46:1992;7319.
38. Schmitz G., Eumann M., Stapel D., Franchy R. Surf. Sci. 427-428:1999;91.
39. Franchy R., Schmitz G., Gassmann P., Bartolucci F. Appl. Phys. A. 65:1997;551.
40. Pan F.M., Pflitsch C., David R., Verheij L., Franchy R. Surf. Sci. 479:2001;191.