Controlling the conductance of atomically thin metal wires with electrochemical potential

Journal of the American Chemical Society

Volumn 124, Issue 45, 2002, Pages 13568-13575

  Xu, Bingqian ^a   He, Huixin ^a   Tao, Nongjian J ^a  

^a Arizona State University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC CONFIGURATION;

ADSORPTION; ELECTRIC CONDUCTANCE; ELECTRODES; ELECTROLYTES; GOLD; NEGATIVE IONS;

ELECTRIC WIRE;

ELECTROLYTE; GOLD; METAL; NANOPARTICLE;

ADSORPTION; ANION TRANSPORT; ARTICLE; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMICAL ANALYSIS; ELECTRODE; ELECTRON TRANSPORT; HISTOGRAM; MATHEMATICAL ANALYSIS; QUANTUM MECHANICS;

EID: 0037073203     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja027810q     Document Type: Article

References (54)

1. Kastner, M. A. Rev. Mod. Phys. 1992, 64, 849-858.
2. Kouwenhoven, L. Science 1995, 268, 1440-1441.
3. Averin, D. V.; Likharev, K. K. In Mesoscopic Phenomena in Solids; Altshuler, B. L., Lee, P. A., Webb. R. A., Eds.; Elsevier: Amsterdam, 1991.
4. Datta, S.; Tian, W. D.; Hong, S. H.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2530-2533.
5. Fan, F.-R. F.; Bard, A. J. Science 1997, 277, 1791-1793.
6. Chen, S. W.; Ingram, R. S.; Hostetler, M. J.; Pietron, J. J.; Murray, R. W.; Schaaff, T. G.; Khoury, J. T.; Alvarez, M. M.; Whetten, R. L. Science 1998, 280, 2098-2101.
7. Chen, S. W.; Yang, Y. Y. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5280-5281.
8. Gittins, D. I.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. Nature 2000, 408, 67-69.
9. Brousseau, L. C., III; Zhao, Q.; Shultz, D. A.; Feldheim, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 7645.
10. Li, C. Z.; Tao, N. J. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 894-897.
11. Shu, C.; Li, C. Z.; He, X.; Bogozi, A.; Bunch, J. S.; Tao, N. J. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 5196-5199.
12. He, H. X.; Shu, Li, C. Z.; Tao, N. J. J. Electroanal. Chem. 2002, 522, 26-32.
13. Landauer, R. IBM J. Res. Dev. 1957, 1, 223-231.
14. Wharam, D. A.; Thornton, T. J.; Newbury, R.; Pepper, M.; Ahmed, H.; Frost, J. E. F.; Hasko, D. G.; Peacock, D. C.; Ritchie, D. A.; Jones, G. A. C. J. Phys. C: Solid State Phys. 1988, 21, 209-214.
15. Wees, B. J. v.; Houten, H. v.; Beenakker, C. W. J.; Williams, J. G.; Kouwenhowen, L. P.; Marel, D. v. d.; Foxon, C. T. Phys. Rev. Lett. 1988, 60, 848-850.
16. Muller, C. J.; van Ruitenbeek, J. M.; de Jongh, L. J. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 140.
17. Agrait, N.; Rodrigo, J. G.; Vieira, S. Phys. Rev. B 1993, 52, 12345.
18. Pascual, J. I.; Mendez, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M.; Garcia, N.; Binh, V. T. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1852-1855.
19. Li, C. Z.; Bogozi, A.; Huang, W.; Tao, N. J. Nanotechnology 1999, 10, 221-223.
20. Ohnishi, H.; Kondo, Y.; Takayanagi, K. Nature 1998, 395, 780-783.
21. Rodrigues, V.; Fuhrer, T.; Ugarte, D. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 4124.
22. Rubio, G.; Agrait, N.; Vieira, S. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2302-2305.
23. Rodrigues, V.; Fuhrer, T.; Ugarte, D. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 4124-4127.
24. van Ruitenbeek, J. M.; Devoret, M. H.; Esteve, D.; Urbina, C. Phys. Rev. B 1997, 56, 12566.
25. Cuevas, J. C.; Levy Yeyato, A.; Martin-Rodero, A. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 1066-1069.
26. Levy Yeyati, A.; Martín-Rodero, A.; Flores, F. Phys. Rev. B 1997, 56, 10369-10372.
27. Bach, C. E.; Giesen, M.; Ibach, H.; Einstein, T. L. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 4225-4228.
28. Firesen, C.; Dimitrov, N.; Cammarata, R. C.; Sieradzki, K. Langmuir 2001, 17, 807-815.
29. Kotz, E. R.; Neff, H.; Muller, K. J. Electroanal. Chem. 1986, 215, 331-344.
30. Garrett, S. Am. J. Physiol. 1979, 47, 195-196.
31. Torres, J. A.; Pascual, J. I.; Saenz, J. J. Phys. Rev. B 1994, 49, 16581.
32. Vaught, A.; Jing, T. W.; Lindsay, S. M. Chem. Phys. Lett. 1995, 236, 306-310.
33. Pan, J.; W. Jing, T.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. 1993, 97, 4205-4208.
34. Wiechers, J.; Twomey, T.; Kolb, D. M.; Behm, R. J. J. Electroanal. Chem. 1988, 248, 451.
35. Christoph, R.; Siegenthaler, H.; Rohrer, H.; Wiese, W. Electrochim. Acta 1989, 34, 1011.
36. Chen, C. J. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy; Oxford University Press: New York, 1993.
37. Schmickler, W. Surf. Sci. 1995, 335, 416-421.
38. Bogachek, E. N.; Scherbakov, A. G.; Landman, U. Phys. Rev. B 1997, 56, 1065-1067.
39. Tucceri, R. I.; Posadas, D. J. Electroanal. Chem. 1985, 191, 387-399.
40. Tucceri, R. I.; Posadas, D. J. Electroanal. Chem. 1989, 270, 415-419.
41. Tucceri, R. I.; Posadas, D. J. Electroanal. Chem. 1990, 283, 159-166.
42. Fried, G. A.; Zhang, Y.; Bohn, P. W. Thin Solid Films 2001, 401, 171-178.
43. Hanewinkel, C.; Otto, A.; Wandlowski, T. Surf. Sci. 1999, 429, 255-259.
44. Winks, H.; Schumacher, D.; Otto, A. Surf. Sci. 1998, 400, 44-53.
45. Li, C. Z.; Sha, H.; Tao, N. J. Phys. Rev. B 1998, 58, 6775-6778.
46. Bogozi, A.; Lam, O.; He, H. X.; Li, C. Z.; Tao, N. J.; Nagahara, L. A.; Amlani, I.; Tsui, R. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 4585-4590.
47. Fuchs, K. Proc. Cambridge Philos. Soc. 1938, 34, 100.
48. Sondheimer, E. H. Adv. Phys. 1952, 1, 1.
49. Tobin, R. G. Surf. Sci. 2002, 502, 374-387.
50. Persson, B. N. J. J. Chem. Phys. 1993, 98, 1659-1672.
51. Schultze, J. W.; Rolle, D. Can. J. Chem. 1997, 75, 1750-1758.
52. Lorenz, W.; Salie, G. Z. Phys. Chem. 1961, 218, 259.
53. Bradbyge, M.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K. Phys. Rev. B 1997, 55, 2637-2650.
54. Hakkinen, H.; Barnett, R. N.; Landman, U. J. Phys. Chem. 1999, 103, 8814-8817.