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Volumn 88, Issue 9, 2002, Pages 968031-968034

Real-space measurement of the potential distribution inside organic semiconductors

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ELECTRIC POTENTIAL; ELECTRODES; ETCHING; MATHEMATICAL MODELS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; SUBSTRATES;

EID: 0037018001     PISSN: 00319007     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.