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Volumn 35, Issue 6, 2002, Pages 664-668

Diffraction thermometry and differential thermal analysis

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SILICON; TITANIUM DERIVATIVE;

EID: 0036895280     PISSN: 00218898     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0021889802016497     Document Type: Article
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References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.