Optical and electrical properties of pure and rare-earth-doped nc-Si/SiO2 composites prepared by RF cosputtering

Surface Review and Letters

Volumn 9, Issue 5-6, 2002, Pages 1655-1660

  Fonseca, Luis F ^a   Resto, Oscar ^a   Nery, Guillermo ^a   Posada, Yury ^a   Weisz, Zvi ^a   Liu, Huimin ^b   Mahfoud, Aziz ^b  

^a UNIVERSITY OF PUERTO RICO   (Puerto Rico)

^b UNIVERSITY OF PUERTO RICO   (Puerto Rico)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ERBIUM; EUROPIUM; SILICON DERIVATIVE; SILICON DIOXIDE;

COMPOSITE MATERIAL; CONCENTRATION RESPONSE; CONDUCTANCE; CONFERENCE PAPER; ELECTRICITY; ELECTRON TRANSPORT; INFRARED RADIATION; MOLECULAR INTERACTION; PHOTOLUMINESCENCE; TEMPERATURE;

EID: 0036797261     PISSN: 0218625X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1142/s0218625x02004165     Document Type: Conference Paper

References (10)

1. L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).
2. H. Liu, A. Mahfoud, G. A. Nery, O. Resto, L. F. Fonseca and Z. Weisz, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 609, A11.4.1 (2000); X. Wu, U. Hömmerich, F. Namavar and A. M. Cremins-Costa, Appl. Phys. Lett. 69, 1903 (1996); C. E. Chryssou, A. J. Kenyon, T. S. Iwayama, C. W. Pitt and E. Hole, Appl. Phys. Lett. 75, 2011 (1999); T. Gregorkiewicz, D. T. X. Thao, J. M. Langer, H. H. P. Th. Bekman, M. S. Bresler, J. Michel and L. C. Kimerling, Phys. Rev. B61, 5369 (2000).
3. H. Liu, A. Mahfoud, G. A. Nery, O. Resto, L. F. Fonseca and Z. Weisz, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 609, A11.4.1 (2000); X. Wu, U. Hömmerich, F. Namavar and A. M. Cremins-Costa, Appl. Phys. Lett. 69, 1903 (1996); C. E. Chryssou, A. J. Kenyon, T. S. Iwayama, C. W. Pitt and E. Hole, Appl. Phys. Lett. 75, 2011 (1999); T. Gregorkiewicz, D. T. X. Thao, J. M. Langer, H. H. P. Th. Bekman, M. S. Bresler, J. Michel and L. C. Kimerling, Phys. Rev. B61, 5369 (2000).
4. H. Liu, A. Mahfoud, G. A. Nery, O. Resto, L. F. Fonseca and Z. Weisz, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 609, A11.4.1 (2000); X. Wu, U. Hömmerich, F. Namavar and A. M. Cremins-Costa, Appl. Phys. Lett. 69, 1903 (1996); C. E. Chryssou, A. J. Kenyon, T. S. Iwayama, C. W. Pitt and E. Hole, Appl. Phys. Lett. 75, 2011 (1999); T. Gregorkiewicz, D. T. X. Thao, J. M. Langer, H. H. P. Th. Bekman, M. S. Bresler, J. Michel and L. C. Kimerling, Phys. Rev. B61, 5369 (2000).
5. H. Liu, A. Mahfoud, G. A. Nery, O. Resto, L. F. Fonseca and Z. Weisz, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 609, A11.4.1 (2000); X. Wu, U. Hömmerich, F. Namavar and A. M. Cremins-Costa, Appl. Phys. Lett. 69, 1903 (1996); C. E. Chryssou, A. J. Kenyon, T. S. Iwayama, C. W. Pitt and E. Hole, Appl. Phys. Lett. 75, 2011 (1999); T. Gregorkiewicz, D. T. X. Thao, J. M. Langer, H. H. P. Th. Bekman, M. S. Bresler, J. Michel and L. C. Kimerling, Phys. Rev. B61, 5369 (2000).
6. J. J. Hanak, H. W. Lehman and R. K. Wehner, J. Appl. Phys. 43, 1666 (1972).
7. S. Charvet, R. Madelon, R. Rizk, B. Garrido, O. González-Varona, M. López, A. Pérez-Rodríguez and J. R. Morante, J. Lumin. 80, 241 (1999).
8. I. H. Campbell and P. M. Fauchet, Solid State Commun. 58, 739 (1986); Y. Kanmitsu, U. Hiroshi, Y. Masumoto, T. Matsumoto, T. Futagi and H. Mimura, Phys. Rev. B48, 2827 (1993).
9. I. H. Campbell and P. M. Fauchet, Solid State Commun. 58, 739 (1986); Y. Kanmitsu, U. Hiroshi, Y. Masumoto, T. Matsumoto, T. Futagi and H. Mimura, Phys. Rev. B48, 2827 (1993).
10. M. Fujii, M Yoshida, Y. Hanzawa, S. Hayashi and K. Yamamoto, J. Appl. Phys. 84, 4525 (1998).