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EPJ Applied Physics

Volumn 18, Issue 2, 2002, Pages 135-151

XPS analyses of polystyrene thin films treated under DC pulsed discharges conditions in nitrogen, oxygen and oxygen-argon mixtures

(4) Clement F a Held, B a Soulem, N a Guimon, C a

a UNIVERSITÉ DE PAU ET DES PAYS DE L'ADOUR (France)

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ANGLE MEASUREMENT; CHEMICAL BONDS; CONTACT ANGLE; NITROGEN; OXYGEN; PLASMA DEVICES; SURFACE TREATMENT; THIN FILMS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

CONTACT ANGLE MEASUREMENTS; DC PULSED DISCHARGES; WETTABILITY;

POLYSTYRENES;

EID: 0036572446 PISSN: 12860042 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1051/epjap:2002035 Document Type: Article

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