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Volumn 44, Issue 5, 2002, Pages 811-815

Study of birefringence in porous silicon layers by IR Fourier spectroscopy

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EID: 0036014704     PISSN: 10637834     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1477477     Document Type: Article
Times cited : (33)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.