Vector magnetization imaging in ferromagnetic thin films using soft x-rays

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 18, 2001, Pages 2742-2744

  Kim, Sang Koog ^a,b   Kortright, J B ^a   Shin, Sung Chul ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035971670     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1370120     Document Type: Article

References (25)

1. A. Hubert and R. Schäfer, Magnetic Domains (Springer, Berlin, 1998).
2. E. D. Dahlberg and J.-G. Zhu, Phys. Today 48 , 34 (1995).
3. M. R. Scheinfein, J. Unguris, M. H. Kelley, D. T. Pierce, and R. J. Celotta, Rev. Sci. Instrum. 61, 2501 (1990).
4. Y. Lee, A. R. Koymen, and M. J. Haji-Sheikh, Appl. Phys. Lett. 72, 851 (1998).
5. M. R. Scheinfein, J. Unguris, R. J. Celotta, and D. T. Pierce, Phys. Rev. Lett. 63, 668 (1989), and references therein.
6. T. Duden and E. Bauer, Phys. Rev. B 59, 474 (1999).
7. A. C. Daykin, J. P. Jakubovics, and A. K. Petford-Long, J. Appl. Phys. 82, 2447 (1997).
8. M. R. McCartney and Y. Zhu, J. Appl. Phys. 83, 6414 (1998), and references therein.
9. R. Mattheis, D. Berkov, and N. Gorn, J. Magn. Magn. Mater. 198-199, 216 (1999).
10. J. B. Kortright, S.-K. Kim, H. Ohldag, G. Meigs, and A. Warwick, X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference, edited by W. Meyer-Ilse, T. Warwick, and D. T. Attwood (AIP, New York, 2000), p. 49.
11. P. Fischer, T. Eimüller, G. Schülz, P. Guttmann, G. Schmahl, K. Pruegl, and G. Bayreuther, J. Phys. D 31, 649 (1998).
12. J. Unguris, R. J. Celotta, and D. T. Pierce, Phys. Rev. Lett. 79, 2734 (1997).
13. E. Y. Vedmedenko, H. P. Oepen, A. Ghazali, J.-C. S. Lévy, and J. Kirschner, Phys. Rev. Lett. 84, 5884 (2000).
14. J. Stöhr, Y. Wu, B. D. Hermsmeier, M. G. Samant, G. R. Harp, S. Koranda, D. Dunham, and B. P. Tonner, Science 259, 658 (1993).
15. F. Nolting, A. Scholl, J. Stöhr, J. W. Seo, J. Fompeyrine, H. Siegwart, J.-P. Loquet, S. Anders, J. Lning, E. E. Fullerton, M. F. Toney, M. R. Scheinfein, and H. A. Padmore, Nature (London) 405, 767 (2000).
16. T. Warwick, K. Franck, J. B. Kortright, G. Meigs, M. M. Moronne, S. Myneni, E. Rotenberg, S. Seal, W. Steele, H. Ade, A. L. Garcia, S. Cerasari, J. Denlinger, S. Hayakawa, A. P. Hitchcock, T. Tyliszczak, E. G. Rightor, H.-J. Shin, and B. P. Tonner, Rev. Sci. Instrum. 69, 2964 (1998).
17. J. B. Kortright, S.-K. Kim, T. Warwick, and N. V. Smith, Appl. Phys. Lett. 71, 1446 (1997).
18. V. Chakarian, Y. U. Idzerda, G. Meigs, E. E. Chaban, J.-H. Park, and C. T. Chen, Appl. Phys. Lett. 66, 3368 (1995).
19. T. Shinjo, T. Okuno, R. Hassdorf, K. Shigeto, and T. Ono, Science 289, 930 (2000).
20. J. Raahe, R. Pulwey, R. Sattler, T. Schweinböck, J. Zweck, and D. Weiss, J. Appl. Phys. 88, 4437 (2000).
21. J. Shi, S. Tehrani, T. Zhu, Y. F. Zheng, and J.-G. Zhu, Appl. Phys. Lett. 74, 2525 (1999).
22. M. Löhndorf, A. Wadas, H. A. M. van den Berg, and R. Wiesendanger, Appl. Phys. Lett. 68, 3635 (1996).
23. I. L. Prejbeanu, L. D. Buda, U. Ebels, and K. Ounadjela, Appl. Phys. Lett. 77, 3066 (2000).
24. R. P. Cowburn, D. K. Koltsov, A. O. Adeyeye, M. E. Welland, and D. M. Tricker, Phys. Rev. Lett. 83, 1042 (1999).
25. T. Pokhil, D. Song, and J. Nowak, J. Appl. Phys. 87, 6319 (2000).