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Volumn , Issue 10, 2001, Pages 907-908

Z-contrast tomography: A technique in three-dimensional nanostructural analysis based on Rutherford scattering

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PALLADIUM; RUTHENIUM; SILICON DIOXIDE;

EID: 0035926871     PISSN: 13597345     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b101819c     Document Type: Article
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    • Voxel = a three dimensional pixel
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.