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Volumn 114, Issue 22, 2001, Pages 10094-10104

Measurement of surface charge densities on Brownian particles using total internal reflection microscopy

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ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BOUNDARY CONDITIONS; BROWNIAN MOVEMENT; DENSITY (SPECIFIC GRAVITY); ELECTROLYTES; ELECTROPHORESIS; INTEGRAL EQUATIONS; LASER BEAMS; PERMITTIVITY; PHASE EQUILIBRIA; POLYSTYRENES; SALTS; SILICA;

EID: 0035827173     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1371556     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.