-
3
-
-
0006157160
-
-
See for example: (a) Ausloos, P.; Lias, S. G.; Buckley, T. J.; Rogers, E. E. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1989, 92, 65-77. (b) Leek, D. T.; Stirk, K. M.; Zeller, L. C.; Kiminkinen, L. K. M.; Castro, L. M.; Vainiotalo, P.; Kenttämaa, H. I. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 3028-3038. (c) Pakarinen, J. M. H.; Vainiotalo, P.; Pakkanen, T. A.; Kenttämaa, H. I. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12431-12440. (d) Zeller, L.; Farrell, J., Jr.; Vainiotalo, P.; Kenttämaa, H. I. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1205-1214.
-
-
-
-
4
-
-
0006239413
-
-
See for example: (a) Jackson, J. A. A.; Lias, S. G.; Ausloos, P. J. Am. Chem. Soc. 1977, 99, 7515-7521. (b) Sharma, D. K.; Kebarle, P. Can. J. Chem. 1981, 59, 1592-1601. (c) Thoen, K. K.; Beasley, B. J.; Smith, R. L.; Kenttämaa, H. I. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1996, 7, 1245-1250. (d) Hu, J.; Hill, B. T.; Squires, R. R. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11699-11700. (e) Filippi, A.; Grandinetti, G.; Occhucci, G.; Speranza, M. Int. J. Mass Spectrom. 2000, 195/196, 21-31. (f) van der Rest, G.; Mourgues, P.; Leblanc, D.; Audier, H. E. Eur. Mass Spectrom. 1997, 3, 323-326. (g) Stanley, R. H.; Corderman, R. R.; Foster, M. S.; Beauchamp, J. L. J. Am. Chem. Soc. 1974, 96, 1260-1261. (h) Becker, H.; Schröder, D.; Zummack, W.; Schwarz, H. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 1096-1100. (i) Thissen, R.; Audier, H. E.; Chamot-Rooke, J.; Mourgues, P. Eur. Mass Spectrom. 1999, 5, 147-150.
-
-
-
-
5
-
-
0006200026
-
-
See for example: (a) Mabud, M. A.; Ast, T.; Verma, S.; Jiang, Y. X.; Cooks, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 7597-7602. (b) Mason, R. S.; Jennings, K. R.; Verma, S.; Cooks, R. G. Org. Mass Spectrom. 1985, 20, 727-732. (c) March, R. E.; Young, A. B. Can. J. Chem. 1988, 66, 591-597. (d) Ramanathan, R.; Cao, K.; Cavalieri, E.; Gross, M. L. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1998, 9, 612-619. (e) Mason, R. S.; Naylor, J. C. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 10090-10098. (f) Hsu, F. F.; Turk, J. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1999, 10, 600-612.
-
-
-
-
6
-
-
0024276662
-
-
(1988)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.110
, pp. 657-665
-
-
Pachuta, S.J.1
Kenttämaa, H.I.2
Sack, T.M.3
Cerny, R.L.4
Tomer, K.B.5
Gross, M.L.6
Pachuta, R.R.7
Cooks, R.G.8
-
8
-
-
0006235040
-
-
(a) Marshall, A. G.; Wang, T. C. L.; Ricca, T. L. J. Am. Chem. Soc. 1985, 107, 7893-7897. (b) Marshall, A. G.; Ricca, T. L.; Wang, T. C. L. U.S. Patent 4,761,545, 1988.
-
-
-
-
11
-
-
0006188685
-
-
Gaussian 98, Revision A.7, Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Baboul, A. G.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Gonzalez, C.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian, Inc., Pittsburgh, PA, 1998.
-
-
-
-
12
-
-
0006199791
-
-
See for example: (a) Wiberg, K. B.; Hadad, C. M.; Rablen, P. R.; Cioslowski, J. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 8644-8654. (b) Nicolaides, A.; Radom, L. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 10561-10570.
-
-
-
-
13
-
-
0006156052
-
-
Lias, S. G. A Ionization Energy Evaluation@ in NIST Chemistry WebBook, NIST Standard Reference Database Number 69; Mallard, W. G.; Linstrom, P. J., Eds.; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 1998 (http://webbook.nist.gov).
-
-
-
-
14
-
-
0006153666
-
-
Debbert, S. L.; Cramer, C. J. Int. J. Mass Spectrom, in press.
-
-
-
|