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Volumn 17, Issue 6, 2001, Pages 19-28

Substrate noise analysis identifies potential problems in mixed-signal and RF designs

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SYSTEM-ON-A-CHIP (SOC);

EID: 0035517255     PISSN: 87553996     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/101.968913     Document Type: Article
Times cited : (14)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.