A novel imaging x-ray microscope based on a spherical crystal

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 8, 2001, Pages 3291-3303

  Sanchez Del Rio, M ^a   Alianelli, L ^a,b   Pikuz, T A ^c   Faenov, A Ya ^c  

^a EUROPEAN SYNCHROTRON RADIATION FACILITY   (France)

^b INSTITUT LAUE LANGEVIN   (France)

^c Natl Res Inst Phyiscal Tech R   (Russian Federation)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035418844     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1379599     Document Type: Article

References (24)

1. X-ray Microscopy and Spectromicroscopy, edited by J. Thieme, G. Schmahl, D. Rudolph, and E. Umbach (Springer, Berlin, 1998), Part I.
2. K. Yada and S. Takahashi, in X-ray Microscopy II, edited by D. Sayre, M. Howells, J. Kirz, and H. Barbach (Springer, Berlin, 1988), pp. 323-326.
3. J. Kirz, C. Jacobsen, and M. Howells, Q. Rev. Biophys. 28, 1 (1995).
4. P. Dhez, P. Chevallier, T. B. Lucatorto, and C. Tarrio, Rev. Sci. Instrum. 70, 1907 (1999).
5. V. E. Cosslet, A. Engstrom, and H. H. Pattee, X-ray Microscopy and Microradiography (Academic, New York, 1957).
6. V. E. Coslett and W. C. Nixon, Nature (London) 168, 24 (1951); X-ray Microscopy (Cambridge University, Cambridge, England, 1960).
7. V. E. Coslett and W. C. Nixon, Nature (London) 168, 24 (1951); X-ray Microscopy (Cambridge University, Cambridge, England, 1960).
8. S. A. Pikuz, T. A. Shelkovenko, D. A. Hammer, A. Ya. Faenov, T. A. Pikuz, V. M. Dyakin, and V. M. Romanova, JETP Lett. 61, 638 (1995); Y. Aglitskiy, T. Lehecka, S. Obenschain, C. Pawley, C. M. Brown, and J. Seely, Rev. Sci. Instrum. 70, 530 (1999).
9. S. A. Pikuz, T. A. Shelkovenko, D. A. Hammer, A. Ya. Faenov, T. A. Pikuz, V. M. Dyakin, and V. M. Romanova, JETP Lett. 61, 638 (1995); Y. Aglitskiy, T. Lehecka, S. Obenschain, C. Pawley, C. M. Brown, and J. Seely, Rev. Sci. Instrum. 70, 530 (1999).
10. E. Förster, K. Gäbel, and I. Uchmann, in X-ray Microscopy III, edited by A. Michette, G. Morrison, and C. Buckley (Springer, Berlin, 1992), pp. 202-205.
11. M. Sanchez del Rio, A. Ya. Faenov, V. M. Dyakin, T. A. Pikuz, S. A. Pikuz, V. M. Romanova, and T. A. Shelkovenko, Phys. Scr. 55, 735 (1997).
12. P. Kirkpatrick and A. V. Baez, J. Opt. Soc. Am. 38, 766 (1948).
13. M. Fraenkel, A. Zigler, A. Ya. Faenov, and T. A. Pikuz, Phys. Scr. 59, 246 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, and F. Bonfigli, Proc. SPIE 3767, 67 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, F. Bonfigli, L. Alianelli, and M. Sanchez del Rio, Laser Part. Beams (accepted).
14. M. Fraenkel, A. Zigler, A. Ya. Faenov, and T. A. Pikuz, Phys. Scr. 59, 246 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, and F. Bonfigli, Proc. SPIE 3767, 67 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, F. Bonfigli, L. Alianelli, and M. Sanchez del Rio, Laser Part. Beams (accepted).
15. M. Fraenkel, A. Zigler, A. Ya. Faenov, and T. A. Pikuz, Phys. Scr. 59, 246 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, and F. Bonfigli, Proc. SPIE 3767, 67 (1999); T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, M. Fraenkel, A. Ziegler, F. Flora, S. Bollanti, P. Di Lazzaro, T. Letardi, A. Grilli, L. Palladini, G. Tomassetti, L. Reale, T. Limongi, F. Bonfigli, L. Alianelli, and M. Sanchez del Rio, Laser Part. Beams (accepted).
16. M. Sanchez del Rio, M. Fraenkel, A. Zigler, A. Ya. Faenov, and T. A. Pikuz, Rev. Sci. Instrum. 70, 1614 (1999).
17. C. Welnak, G.-J. Chen, and F. Cerrina, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 347, 344 (1994).
18. See any text of general optics, for instance, E. Hetch, Optics, 2nd ed. (Addison-Wesley, New York, 1987), p. 226.
19. C. Tillmann, A. Persson, C.-G. Wahlström, S. Svanberg, and K. Herrlin, Appl. Phys. B: Lasers Opt. 61, 333 (1995).
20. B. Niemann, in X-ray Microscopy and Spectromicroscopy, edited by J. Thieme, G. Schmahl, D. Rudolph, and E. Umbach (Springer, Berlin, 1998), IV-45.
21. E. Spiller, Soft X-ray Optics (SPIE, Bellingham, WA, 1994), Chap. 6.
22. E. Di Fabrizio, F. Romanato, M. Gentili, S. Cabrini, B. Kaulich, J. Susini, and R. Barrett, Nature (London) 401, 895 (1999).
23. D. Weiss, G. Schneider, B. Niemann, P. Guttmann, D. Pudolph, and G. Schmahl, Ultramicroscopy 84, 185 (2000).
24. S. Brauer, G. B. Stephenson, and M. Sutton, J. Synchrotron Radiat. 2, 163 (1995).