Inherent temperature effects in magnetic tunnel junctions

Journal of Applied Physics

Volumn 89, Issue 11 II, 2001, Pages 7567-7569

  Davis, A H ^a   MacLaren, J M ^a   LeClair, P ^b  

^a Tulane University   (United States)

^b EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035356484     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1357126     Document Type: Article

References (21)

1. J. Zhang and R. M. While, J. Appl. Phys. 83, 6512 (1998).
2. J. S. Moodera, L. R. Kinder, T. M. Wong, and R. Meservey, Phys. Rev. Lett. 74, 3273 (1995).
3. J. S. Moodera, J. Nowak, and R. J. M. van de Veerdonk, Phys. Rev. Lett. 80, 2941 (1998).
4. C. H. Shang, J. Nowak, R. Jansen, and J. S. Moodera, Phys. Rev. B 58, 2917 (1998).
5. M. Julliere, Phys. Lett. 54A, 225 (1975).
6. J. M. MacLaren, X. G. Zhang, and W. H. Butler, Phys. Rev. B 56, 11827 (1997).
7. A. H. Davis and J. M. MacLaren, J. Appl. Phys. 87, 5224 (2000).
8. J. C. Slonczewski, Phys. Rev. B 39, 6995 (1989).
9. M. B. Stearns, J. Magn. Magn. Mater. 5, 167 (1977).
10. W. H. Butler, T. C. Sehultess, D. M. Nicholson, A. B. Oparin, and J. M. MacLaren, J. Appl. Phys. 85, 5834 (1999).
11. T. J. Kreutz, T. Greber, P. Aebi, and J. Osterwalder, Phys. Rev. B 58, 1300 (1998).
12. B. Kim, A. B. Andrews, J. L. Erskine, K. J. Kim, and B. M. Harmon, Phys. Rev. Lett. 68, 1931 (1992).
13. M. Shimizu, A. Katsuki, H. Yamada, and K. Terao, J. Phys. Soc. Jpn. 21, 1654 (1966).
14. R. M. Bozorth, Ferromagnetism (IEEE, New York, 1993), p. 265.
15. T. Greber, T. J. Kreutz, and J. Osterwalder, Phys. Rev. Lett. 79, 4465 (1997).
16. M. Donath, B. Gubanka, and F. Passek, Phys. Rev. Lett. 77, 5138 (1996).
17. R. Landauer, IBM J. Res. Dev. 1, 223 (1957).
18. M. Büttiker, IBM J. Res. Dev. 1, 223 (1988).
19. P. LeClair, H. J. M. Swagten, J. T. Kohlhepp, R. J. M. van de Veerdonk, and W. J. M. de Jonge, Phys. Rev. Lett. 84, 2933 (2000).
20. M. Bander and D. L. Mills, Phys. Rev. B 38, 12015 (1988).
21. K. Matsuda, A. Kamijo, T. Mitsuzuka, and H. Tsuge, J. Appl. Phys. 85, 5261 (1999).