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Volumn 89, Issue 9, 2001, Pages 4809-4814

Driving force for adatom electromigration within mixed Cu/Al overlayers on Al(111)

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EID: 0035340558     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1325385     Document Type: Article
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References (36)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.