Influence of heteroepitaxy on the width and frequency of the E2 (high)-phonon line in GaN studied by Raman spectroscopy

Journal of Applied Physics

Volumn 89, Issue 7, 2001, Pages 3634-3641

  Giehler, M ^a   Ramsteiner, M ^a   Waltereit, P ^a   Brandt, O ^a   Ploog, K H ^a   Obloh, H ^b  

^a PAUL DRUDE INSTITUT FÜR FESTKÖRPERELEKTRONIK   (Germany)

^b FRAUNHOFER INSTITUTE FOR APPLIED SOLID STATE PHYSICS IAF   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035307667     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1347406     Document Type: Article

References (30)

1. T. Kozawa, T. Kachi, H. Kano, H. Nagase, N. Koide, and K. Manabe, J. Appl. Phys. 77, 4389 (1995).
2. C. Kisielowski et al., Phys. Rev. B 54, 17745 (1996).
3. M. Klose, N. Wieser, G. C. Rohr, R. Dassow, F. Scholz, and J. Off, J. Cryst. Growth 189/190, 634 (1998).
4. P. Waltereit, O. Brandt, A. Trampert, M. Ramsteiner, M. Reiche, M. Qi, and K. H. Ploog, Appl. Phys. Lett. 74, 3660 (1999).
5. M. Giehler, M. Ramsteiner, O. Brandt, H. Yang, and K. H. Ploog, Appl. Phys. Lett. 67, 733 (1995).
6. A. A. Maradudin and A. E. Fein, Phys. Rev. 128, 2589 (1962).
7. R. A. Cowley, J. Phys. (Paris) 26, 659 (1965).
8. M. Balkanski, R. F. Wallis, and E. Haro, Phys. Rev. B 28, 1928 (1983);
9. 29, 2051 (1984).
10. J. Menendéz and M. Cardona, Phys. Rev. B 29, 2051 (1984).
11. P. G. Klemens, Phys. Rev. 148, 845 (1966).
12. T. R. Hart, R. L. Aggrawal, and B. Lax, Phys. Rev. B 1, 638 (1970).
13. A. Debernardi, Phys. Rev. B 57, 12847 (1998).
14. H. Morkoç, S. Strite, G. B. Gao, M. E. Lin, B. Sverdlov, and M. Burns, J. Appl. Phys. 76, 1363 (1994).
15. T. Soma, Y. Saitoh, and H. Matsuo, Solid State Commun. 42, 889 (1982).
16. T. Soma, Solid State Commun. 34, 927 (1980).
17. J. Xie, S. P. Chen, J. S. Tse, S. Gironoli, and S. Baroni, Phys. Rev. B 60, 9444 (1999).
18. P. Perlin, C. Jaubertie-Carillon, J. P. Itie, A. S. Miguel, I. Grzegory, and A. Polian, Phys. Rev. B 45, 83 (1992).
19. K. Kim, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, Phys. Rev. B 53, 16310 (1996).
20. G. Irmer, M. Wenzel, and J. Monecke, Phys. Status Solidi B 195, 85 (1996).
21. J. M. Zhang, M. Giehler, A. Göbel, T. Ruf, M. Cardona, E. E. Haller, and K. Itoh, Phys. Rev. B 57, 1348 (1998).
22. H. Siegle, G. Kaczmarczyk, L. Filippidis, A. P. Litvinchuk, A. Hoffmann, and C. Thomsen, Phys. Rev. B 55, 7000 (1997).
23. V. Yu. Davidov, Yu. E. Kitaev, I. N. Goncharik, and A. N. Smirnov, Phys. Rev. B 58, 12899 (1998).
24. K. Karch, J. M. Wagner, and F. Bechstedt, Phys. Rev. B 57, 7043 (1998).
25. J. C. Nipko, C.-K. Loong, C. M. Balkas, and R. F. Davis, Appl. Phys. Lett. 73, 34 (1998).
26. K. Parlinski and Y. Kawazoe, Phys. Rev. B 60, 15511 (1999).
27. J. M. Zhang, T. Ruf, M. Cardona, O. Ambacher, M. Stutzmann, J.-M. Wagner, and F. Bechstedt, Phys. Rev. B 56, 14399 (1997).
28. T. Azuhata, T. Sota, K. Suzuki, and S. Nakamura, J. Phys. C 7, L129 (1995).
29. I. Gorczyca, N. E. Cristensen, E. L. Peltzer y Blancá, and C. O. Rodriguez, Phys. Rev. B 51, 11936 (1995).
30. K. Miwa and A. Fukumoto, Phys. Rev. B 48, 7897 (1993).