Fast LEED intensity calculations for surface crystallography using Tensor LEED

Computer Physics Communications

Volumn 134, Issue 3, 2001, Pages 392-425

  Blum, V ^a   Heinz, K ^a  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

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COMPUTATIONAL METHODS; CRYSTALLOGRAPHY; OPTIMIZATION; RELAXATION PROCESSES; SEGREGATION (METALLOGRAPHY); TENSORS;

TENSOR LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION (TLEED);

LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION;

EID: 0035281147     PISSN: 00104655     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0010-4655(00)00209-5     Document Type: Article

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