Interface structure of ultrathin CoSi2 films epitaxially grown on Si(111)

Applied Physics Letters

Volumn 76, Issue 6, 2000, Pages 727-729

  Seubert, A ^a   Schardt, J ^a   Weiss W ^a   Starke, U ^a   Heinz, K ^a   Fauster, Th ^a  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0004442489     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125875     Document Type: Article

References (31)

1. H. v. Känel, Mater. Sci. Rep. 8, 193 (1992).
2. F. Hellman and R. T. Tung, Phys. Rev. B 37, 10786 (1988).
3. J. Vrijmoeth, A. G. Schins, and J. F. van der Veen, Phys. Rev. B 40, 3121 (1989).
4. D. D. Chambliss, T. N. Rhodin, and J. E. Rowe, Phys. Rev. B 45, 1193 (1992).
5. U. Starke, J. Schardt, W. Weiß, G. Rangelov, Th. Fauster, and K. Heinz, Surf. Rev. Lett. 5, 139 (1998).
6. J. M. Gibson, J. C. Bean, J. M. Poate, and R. T. Tung, Appl. Phys. Lett. 41, 818 (1982).
7. J. Derrien, Surf. Sci. 168, 171 (1986).
8. S. A. Chambers, S. B. Anderson, H. W. Chen, and J. H. Weaver, Phys. Rev. B 34, 913 (1986).
9. A. E. M. J. Fischer, E. Vlieg, J. F. van der Veen, M. Clausnitzer, and G. Materlik, Phys. Rev. B 36, 4769 (1987).
10. J. Zegenhagen, K.-G. Huang, B. D. Hunt, and J. F. van der Veen, Phys. Rev. B 36, 4769 (1987).
11. F. Boscherini, J. J. Joyce, M. W. Ruckman, and J. H. Weaver, Phys. Rev. B 35, 4216 (1987).
12. A. E. M. J. Fischer, T. Gustafsson, and J. F. van der Veen, Phys. Rev. B 37, 6305 (1988).
13. C. d'Anterroches, H. N. Yakupoglu, T. L. Rin, R. W. Fathauer, and P. J. Grunthaner, Appl. Phys. Lett. 52, 434 (1988).
14. A. Santaniello, P. DePadova, X. Jin, D. Chandesris, and G. Rossi, J. Vac. Sci. Technol. B 7, 1017 (1989).
15. G. Rossi, X. Jin, A. Santaniello, P. DePadova, and D. Chandesris, Phys. Rev. Lett. 62, 191 (1989).
16. C. W. T. Bulle-Lieuwma, A. F. de Jong, A. H. van Ommen, J. F. van der Veen, and J. Vrijmoeth, Appl. Phys. Lett. 55, 648 (1989).
17. J. Vrijmoeth, S. Zaima, E. Vlieg, and J. W. M. Frenken, Phys. Rev. B 45, 6700 (1992).
18. C. W. T. Bulle-Lieuwma, Appl. Surf. Sci. 68, 1 (1993).
19. D. R. Hamann, Phys. Rev. Lett. 60, 313 (1988).
20. P. J. van den Hoek, W. Ravenek, and E. J. Baerends, Phys. Rev. Lett. 60, 1743 (1988).
21. R. Stadler, thesis, Technisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Technische Universität Wien (1997).
22. K. Heinz, Prog. Surf. Sci. 27, 239 (1988).
23. J. B. Pendry, Low Energy Electron Diffraction (Academic, London, 1974).
24. M. A. van Hove and S. Y. Tong, Surface Crystallography by LEED (Springer, Berlin, 1986).
25. P. J. Rous, J. B. Pendry, D. K. Saldin, K. Heinz, K. Müller, and N. Bickel, Phys. Rev. Lett. 57, 2951 (1986).
26. P. J. Rous, Prog. Surf. Sci. 39, 3 (1992).
27. K. Heinz, M. Kottcke, U. Löffler, and R. Döll, Surf. Sci. 357-358, 1 (1996).
28. M. Kottcke and K. Heinz, Surf. Sci. 376, 352 (1997).
29. J. B. Pendry, J. Phys. C 13, 937 (1980).
30. M. P. Seah and W. A. Dench, Surf. Interface Anal. 1, 2 (1979).
31. R. Stadler, R. Podloucky, G. Kresse, and J. Hafner, Phys. Rev. B 57, 4088 (1998).