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Volumn 290-293, Issue , 2001, Pages 104-106

Unified analytic representation of physical sputtering yield

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FUNCTIONS; ION IMPLANTATION;

EID: 0035276243     PISSN: 00223115     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0022-3115(00)00612-7     Document Type: Article
Times cited : (9)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.