Fourier Transform-STM: Determining the surface Fermi contour

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

Volumn 109, Issue 1, 2000, Pages 97-115

  Petersen, L ^a   Hofmann, Ph ^a   Plummer, E W ^b,c   Besenbacher, F ^a  

^a AARHUS UNIVERSITY   (Denmark)

^b UNIVERSITY OF TENNESSEE   (United States)

^c OAK RIDGE NATIONAL LABORATORY   (United States)

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ELECTRONIC STRUCTURE; FERMI LEVEL; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; METALS; PHOTOEMISSION; SURFACE PROPERTIES;

CHARGE DENSITY WAVES; CHARGE ORDERING; FERMI CONTOUR; KOHN ANOMALIES;

SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 0034248566     PISSN: 03682048     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0368-2048(00)00110-9     Document Type: Article

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