Photoluminescence and EPR of phosphorus vacancies in ZnGeP2

Materials Research Society Symposium - Proceedings

Volumn 607, Issue , 2000, Pages 445-450

  Moldovan, M ^a   Stevens, K T ^b   Halliburton, L E ^a   Schunemann, P G ^b   Pollak, T M ^a   Setzler, S D ^b   Giles, N C ^a  

^a WEST VIRGINIA UNIVERSITY   (United States)

^b LOCKHEED MARTIN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON SPIN RESONANCE SPECTROSCOPY; NONLINEAR OPTICS; PHOSPHORUS; PHOTOLUMINESCENCE; POLARIZATION; SINGLE CRYSTALS; THERMAL EFFECTS;

NEAR-INFRARED PHOTOLUMINESCENCE; ZINC GERMANIUM PHOSPHIDE;

SEMICONDUCTING ZINC COMPOUNDS;

EID: 0033684213     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (18)

1. V. Petrov, F. Rotermund, F. Noack, and P. Schunemann, Optics Letters 24,414 (1999).
2. P. G. Schunemann, K. L. Schepler, and P. A. Budni, MRS Bulletin 23, 45 (1998).
3. L. E. Halliburton, G. J. Edwards, M. P. Scripsick, M. H. Rakowsky, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Appl. Phys. Lett. 66, 2670 (1995).
4. K. T. Stevens, S. D. Setzler, L. E. Halliburton, N. C. Fernelius, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 484, 549 (1998).
5. S. D. Setzler, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, M. C. Ohmer, J. T. Goldstein, F. K. Hopkins, K. T. Stevens, L. E. Halliburton, and N. C. Giles, J. Appl. Phys. 86 (Dec. 15, 1999).
6. N. C. Giles, L. E. Halliburton, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Appl. Phys. Lett. 66, 1758 (1995).
7. S. D. Setzler, N. C. Giles, L. E. Halliburton, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Appl. Phys. Lett. 74, 1218 (1999).
8. M. C. Petcu, N. C. Giles, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Phys. Stat. Sol. (b), 198, 881 (1996).
9. S. Limpijumnong, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, Phys. Rev. B 60, 8087 (1999).
10. A. Shileika, Surface Sci. 37, 730 (1973).
11. I. S. Gorban', V. A. Gorynya, V. V. Lugovskii, and I. I. Tychina, Sov. Phys. Sol. State 16, 1029 (1974).
12. Yurri V. Rud, Vasilii Yu, M. C. Ohmer, and P. G. Schunemann, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 450, 339 (1997).
13. H. M. Hobgood, T. Henningsen, R. N. Thomas, R. H. Hopkins, M. C. Ohmer, W. C. Mitchel, D. W. Fischer, S. M. Hegde, and F. K. Hopkins, J. Appl. Phys. 73, 4030 (1993).
14. J. E. McCrae, Jr., M. R. Gregg, R. L. Hengehold, Y. K. Yeo, P. H. Ostdiek, M. C. Ohmer, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Appl. Phys. Lett. 64, 3142 (1994).
15. S. D. Setzler, L. E. Halliburton, N. C. Giles, P. G. Schunemann, and T. M. Pollak, Mat. Res. Soc. 450, 327 (1997).
16. N. Dietz, W. Busse, H. E. Gumlich, W. Ruderman, I.Tsveybak, G. Wood, and K. J. Bachmann, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 450, 333 (1997).
17. R. Krause-Rehberg, A. Polity, W. Siegel, and G. Kühnel, Semicond. Sci. Technol. 8, 290 (1993).
18. K. T. Stevens, S. D. Setzler, P. G. Schunemann, T. M. Pollak, N. C. Giles, and L. E. Halliburton (paper appearing in this MRS Proceedings volume).