Study of antiferromagnetic NiO using grazing incidence reflectivity and soft X-ray absorption

Journal of Magnetism and Magnetic Materials

Volumn 192, Issue 2, 1999, Pages 297-304

  Van Der Laan, Gerrit ^a  

^a DARESBURY LABORATORY   (United Kingdom)

Author keywords

71.70. d; 75.50.Ee; 78.70.Dm; Antiferromagnets; Electron yield; Reflectivity; Superexchange; X ray spectroscopy

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; ELECTRON TRANSITIONS; EPITAXIAL GROWTH; MAGNESIUM; NICKEL COMPOUNDS; OXIDES; X RAY SPECTROSCOPY;

HIGH RESOLUTION GRAZING INCIDENCE REFLECTIVITY; NICKEL OXIDE; OPTICAL OSCILLATOR MODEL; SOFT X-RAY ABSORPTION; SUPEREXCHANGE INTERACTION;

ANTIFERROMAGNETIC MATERIALS;

EID: 0033514186     PISSN: 03048853     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0304-8853(98)00541-1     Document Type: Article

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