Design and performance of an ultrahigh vacuum system for metallic multilayers

Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

Volumn 17, Issue 1, 1999, Pages 242-248

  Chaudhari, S M ^a   Suresh, N ^a   Phase, D M ^a   Gupta, A ^a   Dasannacharya, B A ^a  

^a UGC DAE CONSORTIUM FOR SCIENTIFIC RESEARCH   (India)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0033483678     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.581578     Document Type: Article

References (22)

1. J. M. Triscone, O. Fischer, O. Bruner, L. Antognaza, A. D. Kent, and M. G. Karkut, Phys. Rev. Lett. 64, 804 (1990); D. H. Lowndes, D. P. Norton, and J. D. Budai, ibid. 65, 1160 (1990).
2. J. M. Triscone, O. Fischer, O. Bruner, L. Antognaza, A. D. Kent, and M. G. Karkut, Phys. Rev. Lett. 64, 804 (1990); D. H. Lowndes, D. P. Norton, and J. D. Budai, ibid. 65, 1160 (1990).
3. M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. Nguyen van Dau, F. Petroff, P. E. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett. 61, 2472 (1988); S. S. P. Parkin, R. Bhadra, and K. P. Roche, ibid. 66, 2152 (1991).
4. M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. Nguyen van Dau, F. Petroff, P. E. Etienne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett. 61, 2472 (1988); S. S. P. Parkin, R. Bhadra, and K. P. Roche, ibid. 66, 2152 (1991).
5. M. J. Casanove, E. Snoeck, C. Boucau, J. L. Hutchison, Z. Jiang, and B. Vidal, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 343, 277 (1994).
6. E. Spiller, Soft X-ray Optics (SPIE Optical Engineering, Washington, DC, 1994).
7. A. Kloidt, K. Nolting, U. Klieneberg, B. Schmiedekamp, U. Heinzmann, P. Muller, and M. Kuhne, Appl. Phys. Lett. 58, 2601 (1991).
8. M. Sudoh, R. Yokyama, M. Sumiya, M. Yamamoto, and T. Namioka, Opt. Eng. (Bellingham) 30, 1061 (1991).
9. M. Cilia and J. Verhoeven, J. Appl. Phys. 82, 4137 (1997).
10. D. G. Steams, R. S. Rosen, and S. P. Vernon, J. Vac. Sci. Technol. A 9, 2662 (1991).
11. A. Chaiken, R. P. Michel, and M. A. Wall, Phys. Rev. B 53, 5518 (1996).
12. E. Spiller, Proc. SPIE 563, 367 (1985).
13. E. Spiller, Opt. Eng. (Bellingham) 29, 609 (1990).
14. B. Lengeler, Adv. X-Ray Anal. 35, 127 (1992).
15. T. C. Huang, Adv. X-Ray Anal. 35, 143 (1992).
16. L. G. Parrat, Phys. Rev. 95, 359 (1954).
17. C. Thompson, G. Palasantzas, Y. P. Feng, S. K. Sinha, and J. Krim, Phys. Rev. B 49, 4902 (1994).
18. E. E. Fullerton, J. Pearson, C. H. Sowers, S. D. Bader, X. Z. Wu, and S. K. Sinha, Phys. Rev. B 48, 17432 (1993).
19. T. Veres, M. Cai, R. Morel, R. W. Cochrane, R. Abdouche, and M. Sutton, J. Appl. Phys. 81, 4758 (1997).
20. F. J. Lamelas, H. D. He, and R. Clarke, Phys. Rev. B 43, 12296 (1991).
21. V. Holy and T. Baumbach, Phys. Rev. B 49, 10668 (1994).
22. M. Pattabi, N. Suresh, S. M. Chaudhari, A. Banerjee, D. M. Phase, K. Mohan Rao, and A. Gupta, Thin Solid Films 322, 340 (1998).