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Volumn 286, Issue 5443, 1999, Pages 1310-1311

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CHEMICAL ANALYSIS; CHEMICAL STRUCTURE; PRIORITY JOURNAL; SHORT SURVEY; STRUCTURE ANALYSIS; X RAY DIFFRACTION;

EID: 0032724189     PISSN: 00368075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1126/science.286.5443.1310     Document Type: Short Survey
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.