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Volumn 10, Issue 1, 1999, Pages 97-101

Coulomb breach effect emerging in shot noise

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ELECTRODYNAMICS; ELECTRONIC DENSITY OF STATES; ELECTROSTATICS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; SHOT NOISE; TUNNEL DIODES;

EID: 0032628927     PISSN: 09574484     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0957-4484/10/1/019     Document Type: Article
Times cited : (6)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.