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Volumn 16, Issue 2, 1998, Pages 850-854

Direct calculation of metal-oxide-semiconductor field effect transistor high frequency noise parameters

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EID: 0032393261     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.581021     Document Type: Article
Times cited : (10)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.