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Volumn , Issue 5, 1998, Pages 453-454

Dioxygen insertion into the axial Si-C bonds of organosilicon porphyrins

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EID: 0032389291     PISSN: 03667022     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1246/cl.1998.453     Document Type: Article
Times cited : (14)

References (19)
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    • 0041455843 scopus 로고    scopus 로고
    • note
    • 3]) were also observed (10% yield based on the initial amount of 1).
  • 9
    • 0042457831 scopus 로고    scopus 로고
    • note
    • 2): λmax 597, 555, 424 nm.
  • 10
    • 0042958845 scopus 로고    scopus 로고
    • note
    • -3, R = 0.084, Rw = 0.105.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.