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Volumn 61, Issue 3 SUPPL., 1998, Pages 475-480

Radiation damage on silicon after very high neutron fluence irradiation

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EID: 0031991744     PISSN: 09205632     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0920-5632(97)00605-1     Document Type: Article
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    • Private comunication, G. Capannesi ENEA Casaccia Via Anguillarese 301 Roma 00060, Italy
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.