Gottfried Mollenstedt and his electron biprism: Four decades of challenging and exciting electron physics

Journal of Electron Microscopy

Volumn 47, Issue 5, 1998, Pages 387-394

  Lichte, Hannes ^a  

^a DRESDEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

Atomic resolution; Electron holography; Electron interference; Electron microscopy; High resolution; Mollenstedt

Indexed keywords

ATOMIC PHYSICS; ELECTRONS; HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY;

APPLIED PHYSICS; ATOMIC-RESOLUTION; ELECTRON BIPRISM; ELECTRON INTERFERENCE; ELECTRON INTERFEROMETRY; ELECTRON PHYSICS; ELECTRON WAVE; HIGH RESOLUTION; INTERFEROMETRY AND HOLOGRAPHIES; MOLLENSTEDT;

ELECTRON HOLOGRAPHY;

EID: 0031796770     PISSN: 00220744     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023609     Document Type: Article

References (36)

1. Möllenstedt G (1991) The invention of the electron fresnel interference biprism. Adv. Opt. Electron Micr. 12: 1.
2. Möllenstedt G and Düker H (1954) Fresnelscher Interferenzversuch mit einem Biprisma für Elektronenwellen. Naturwiss 42: 41.
3. Möllenstedt G and Düker H (1956) Beobachtungen und Messungen an Biprisma-Interferenzen mit Elektronenwellen. Z. Physik 145: 377.
4. Speidel R and Kurz D (1977) Richtstrahlwertmessungen an einem Strahlerzeugungssystem mit Feldemissionskathode. Optik 49: 173.
5. Möllenstedt G and Wohland G (1980) Direct interferometric measurement of the coherence length of an electron wave packet using a Wien Filter, 7th European Congress on Electron Microscopy, Vol. 1, p. 28, (Den Haag).
6. Schmid H (1985) Ein Elektroneninterferometer mit 300 um weit getrennten kohärenten Teilbündeln zur Erzeugung hoher Gangunterschiede und Messung der Phasenschiebung durch das magnetische Vektorpotential bei metallisch abgeschirtem Magnetfluß, Thesis Tübingen.
7. Krimmel E, Möllenstedt G and Rothemund H (1964) Measurement of contact potential differences by electron interferometry. Appl. Phys. Lett. 5: 209.
8. Möllenstedt G and Keller M (1957) Elektroneninterferometrische Messung des inneren Potentials. Z. Physik 148: 34.
9. Keller M (1961) Ein Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine Anwendung. Z. Physik 164: 274.
10. Hoffmann H and Jönsson C (1965) Elektroneninterferometrische Bestimmung der mittleren inneren Potentiale von Al, Cu und Ge unter Verwendung eines neuen Präparationsverfahrens. Z. Physik 182: 360.
11. Bayh W (1962) Messung der kontinuierlichen Phasenschiebung von Elektronenwellen im kraftfeldfreien Raum durch das magnetische Vektorpotential. Z. Physik 169: 492.
12. Wahl H (1979) Elektroneninterferometrische Messung von quantisierten Magnetflüssen in supraleitenden Hohlzylindern. Optik 30: 577.
13. Hasselbach F and Niklaus M (1993) Wien filter: A wave-packet shifting device for restoring longitudinal coherence in charged matter-waves interferometers. Phys. Rev. A 48: 152.
14. Brünger W (1968) Feldemissionskathode zur kohärenten Beleuchtung des Elektronen-Biprismas. Naturwissenschaften 55: 295.
15. Buhl R (1959) Interferenzmikroskopie mit Elektronenwellen. Z. Physik 155: 395.
16. Lichte H and Möllenstedt G (1979) Measurement of the roughness of supersmooth surfaces using an electron mirror interference microscope. J. Phys. E: Sci. Instrum. 12: 941.
17. Möllenstedt G and Lichte H (1980) Electron interferometry. In: Neutron Interferometry, p. 363 (Clarendon Press, Oxford).
18. Möllenstedt G and Lichte H (1978) Doppler shift of electron waves. 9th International Congress on Electron Microscopy, Vol. 1, p. 178, (Toronto).
19. Möllenstedt G and Wahl H (1968) Elektronenholographie und Rekonstruktion mit Laserlicht. Naturwissenschaften 55: 340.
20. Weingärtner I, Mirandé W and Menzel E (1969) Enhancement of resolution in electron microscopy. Optik 30: 318.
21. Wahl H (1974) Experimentelle Ermittlung der komplexen Amplitudentransmission nach Betrag und Phase beliebiger elektronenmikroskopischer Objekte mittels der Off-Axis-Bildebenenholographie. Optik 39: 585, and Bildebenenholographie mit Elektronen, Thesis Tübingen, 1975.
22. Wahl H (1974) Experimentelle Ermittlung der komplexen Amplitudentransmission nach Betrag und Phase beliebiger elektronenmikroskopischer Objekte mittels der Off-Axis-Bildebenenholographie. Optik 39: 585, and Bildebenenholographie mit Elektronen, Thesis Tübingen, 1975.
23. Gabor D (1957) Die Entwicklungsgeschichte des Elektronenmikroskops. ETZ-A 78: 522.
24. Wahl H and Lau B (1979) Theoretische Analyse des Verfahrens, die Feldverteilung in dünnen magnetischen Schichten durch lichtholographische Auswertung elektroneninterferenzmikrospischer Aufnahman zu veranschaulichen. Optik 54: 27.
25. Lichte H (1997) Electron holography methods. In: Handbook of Microscopy Methods I, eds Amelinckx S, van Dyck D, van Landuyt J and van Tendeloo G, p. 515, (VCH).
26. Banzhof H and Herrmann K-H (1993) Reflection electron holography. Ultramicroscopy 48: 175.
27. Lichte H (1986) Electron holography approaching atomic resolution. Ultramicroscopy 20: 293.
28. van der Mast KD (ed.) (1996) 1 Angstrom exit wave reconstruction. Ultramicroscopy 64: (special volume).
29. Lehmann M and Lichte H (1995) Holographic reconstruction methods. In: Electron Holography, eds Tonomura A, Allard LF, Pozzi G, Joy DC and Ono YA, p. 69 (Elsevier Science, B.V.).
30. Fu Q and Lichte H (1995) Holographic measurement of the wave aberration of an electron microscope by means of the phases in the Fourier spectrum. J. Microsc. 179: 112.
31. Lehmann M (1998) Determination and correction of coherent wave aberration from off-axis electron holograms by means of a Genetic Algorithm. 14th International Congress on Electron Microscopy, vol. I, p. 561, (Cancun).
32. Malamidis D and Lichte H (1998) Determination of the wave aberration from holograms of crystalline objects. 14th International Congress on Electron Microscopy, (Cancun) in press.
33. Lichte H (1996) Electron holography: optimum position of the biprism in the electron microscope. Ultramicroscopy 64: 79.
34. Lichte H (1995) Electron holography: state and experimental steps towards 0.1 nm with the CM30-Special Tübingen. In: Electron Holography, eds Tonomura A, Allard LF, Pozzi G, Joy DC and Ono YA, pp. 11-31 (Elsevier Science, B.V.).
35. Orchowski A, Rau W-D and Lichte H (1995) Electron holography surmounts resolution limit of electron microscopy. Phys. Rev. Lett. 74: 399.
36. Haider M, Rose H, Uhlemann S, Kabius B and Urban K (1998) Towards 0.1 nm resolution with the first spherically corrected transmission electron microscope. J. Electron Microsc. 47: 395-405.