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Volumn 204, Issue 1, 1997, Pages 442-449

Noise phenomena in semiconductor transport

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EID: 0031527825     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-3951(199711)204:1<442::AID-PSSB442>3.0.CO;2-2     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.